產(chǎn)品名稱：F20-UV便攜式膜厚測量系統(tǒng)。
產(chǎn)品簡介：是F20系列下的一個型號，用來測量比較薄的薄膜。波長范圍：220nm至1100nm.薄膜厚度的測量范圍是：3nm～50um，為0.1nm.
產(chǎn)品特性：
1、操作簡單、使用方便；
2、測量快速、準確；
3、體積小、重量輕；
4、價格便宜。
產(chǎn)品應用：
1、半導體行業(yè)：光阻、氧化物、氮化物；
2、LCD行業(yè)：液晶盒間隙厚度；
3、光電鍍膜應用：硬化膜、反射膜、濾波片。
產(chǎn)品簡介：是F20系列下的一個型號，用來測量比較薄的薄膜。波長范圍：220nm至1100nm.薄膜厚度的測量范圍是：3nm～50um，為0.1nm.
產(chǎn)品特性：
1、操作簡單、使用方便；
2、測量快速、準確；
3、體積小、重量輕；
4、價格便宜。
產(chǎn)品應用：
1、半導體行業(yè)：光阻、氧化物、氮化物；
2、LCD行業(yè)：液晶盒間隙厚度；
3、光電鍍膜應用：硬化膜、反射膜、濾波片。
