CMI900膜厚測試儀
　　
　　CMI900是一款性價比高的臺式　X　射線熒光光譜儀，應(yīng)用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。
　　
　　
　　
　　詳細信息
　　X射線熒光光譜儀
　　
　　快速的分析：正比計數(shù)探測器和50瓦微焦X射線管，大大了靈敏度
　　簡單的元素區(qū)分：二次光束過濾器可以分離重疊元素
　　性能優(yōu)化，測量元素范圍廣：可預(yù)設(shè)參數(shù)
　　CMI900提供800多種預(yù)設(shè)應(yīng)用參數(shù)/方法
　　杰出的長期穩(wěn)定性：
　　自動熱補償測量儀器溫度，糾正變化，提供穩(wěn)定的結(jié)果
　　簡單快速的光譜校準(zhǔn)，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供要的糾正
　　堅固耐用的設(shè)計
　　
　　可以在實驗室或生產(chǎn)線上操作
　　堅固的工業(yè)設(shè)計
　　經(jīng)行業(yè)驗證的技術(shù)，在銷售量過3000臺
　　調(diào)整生產(chǎn)過程，從而生產(chǎn)力
　　
　　元件性
　　測量焊料合金成份和鍍層厚度
　　優(yōu)化質(zhì)量控制，從而產(chǎn)品生命周期
　　分析導(dǎo)電性鍍層金和鈀的厚度
　　測量電腦硬盤上的NiP層厚度
　　電鍍處理的成本小化，產(chǎn)量化
　　
　　快速簡單的分析
　　同時進行單層或多層鍍層厚度測量及成份分析
　　多可分析4層（不包括基層）
　　鍍液成份分析
　　
　　珠寶及其他合金的快速分析
　　貴金屬合金分析
　　黃金純度分析
　　材料鑒定