如果電路板出現(xiàn)故障,嚴(yán)重的后果可能發(fā)生的復(fù)雜的操作系統(tǒng)。因此,用于生產(chǎn)這種板的質(zhì)量檢驗(yàn)是須的。尤其是在航空航天、飛行器上是不允許的,在雷達(dá)或其他的安裝使用電路板等高科技上,后果是其嚴(yán)重的,在行駛列車上,帶來的危害是大的,在汽車上等等都是其危險(xiǎn)的。
目前市場上在一個(gè)儀器上快速剪切試驗(yàn)不會(huì)單獨(dú)地顯示現(xiàn)象。如果測試裝置有高的剛性,然后用緩慢的蠕變測試速度會(huì)獲得更多額外的信息,和迄今未知詳細(xì)的分析資料,這是需要引起我們注意和了解的。
我們測試設(shè)備可以提供剪切與蠕變的測試選項(xiàng)。
引起板上焊接點(diǎn)失效的主要因素。
1.破裂主要(陶瓷)板體的部分。
2.金屬層的邊界形成裂隙開始。
3.The interface between the element and the solder begins to cave in.
4.焊料量的失敗
5.焊接點(diǎn)開始與下面的pad失去連接。
6.板子本身的因素導(dǎo)致裂縫,后折斷。
如果我們選擇“負(fù)荷與位移”為橫軸(圖9),那么測試速度會(huì)
變得,緩慢-幾乎似乎停滯不前-這時(shí)測試的樣品會(huì)強(qiáng)大的阻力。這是可以預(yù)期的,但它不能告訴了對象的蠕變特性。
在這里:藍(lán)色曲線顯示“負(fù)載”(北),紅色顯示工具(在運(yùn)動(dòng)μ米/秒。)。








