| CheckSum集成電路測試系統(tǒng)應(yīng)用于集成電路設(shè)計與組裝公司用來檢測集成電路的電氣缺陷，如開短路、電阻、電容及二管的電壓。 概述：該測試系統(tǒng)是測試IC的一個解決方案。具有占用空間小和耗的特點，可用于實驗室及凈化室。 系統(tǒng)可以配置廣泛的通道，典型配置可達1000個通道，配置可達8000個通道，系統(tǒng)可以設(shè)置測試多個站點設(shè)備，的測試結(jié)果保存到內(nèi)置的SPC軟件進行分析。 模塊化的架構(gòu)使得可以從桌面測試和調(diào)試與實時分析工具對大容量、多站點生產(chǎn)在同一測試系統(tǒng)。機械基礎(chǔ)架構(gòu)可以很容易地擴展來滿足您的未來需求。該系統(tǒng)可控制一個處理程序來自動改變件和測試而不需要人為操作。 系統(tǒng)提供這些功能所占空間不到一平方米，相比之下，傳統(tǒng)的ATE提供這些功能所占的空間是該系統(tǒng)的4-6倍，該系統(tǒng)采用風(fēng)冷系統(tǒng)，限度降低對空調(diào)的要求。 系統(tǒng)采用標準的windows電腦控制測量子系統(tǒng)，可以由負載板或者其它接口裝置連接到被測裝置。
IC座測試系統(tǒng)高數(shù)量的PIN腳測試能力，重復(fù)性高，四線低阻測試以及自動學(xué)習(xí)功能，適合IC座的開路及連通性能測試。
老化板系統(tǒng)高數(shù)量的PIN腳測試能力，高重復(fù)性和性，復(fù)雜的阻測量和多通道加上自動學(xué)習(xí)功能，使得其適合測試包括老化板在內(nèi)的各種類型的板。
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