| CheckSum集成電路測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用于集成電路設(shè)計(jì)與組裝公司用來(lái)檢測(cè)集成電路的電氣缺陷，如開短路、電阻、電容及二管的電壓。 概述：該測(cè)試系統(tǒng)是測(cè)試IC的一個(gè)解決方案。具有占用空間小和耗的特點(diǎn)，可用于實(shí)驗(yàn)室及凈化室。 系統(tǒng)可以配置廣泛的通道，典型配置可達(dá)1000個(gè)通道，配置可達(dá)8000個(gè)通道，系統(tǒng)可以設(shè)置測(cè)試多個(gè)站點(diǎn)設(shè)備，的測(cè)試結(jié)果保存到內(nèi)置的SPC軟件進(jìn)行分析。 模塊化的架構(gòu)使得可以從桌面測(cè)試和調(diào)試與實(shí)時(shí)分析工具對(duì)大容量、多站點(diǎn)生產(chǎn)在同一測(cè)試系統(tǒng)。機(jī)械基礎(chǔ)架構(gòu)可以很容易地?cái)U(kuò)展來(lái)滿足您的未來(lái)需求。該系統(tǒng)可控制一個(gè)處理程序來(lái)自動(dòng)改變件和測(cè)試而不需要人為操作。 系統(tǒng)提供這些功能所占空間不到一平方米，相比之下，傳統(tǒng)的ATE提供這些功能所占的空間是該系統(tǒng)的4-6倍，該系統(tǒng)采用風(fēng)冷系統(tǒng)，限度降低對(duì)空調(diào)的要求。 系統(tǒng)采用標(biāo)準(zhǔn)的windows電腦控制測(cè)量子系統(tǒng)，可以由負(fù)載板或者其它接口裝置連接到被測(cè)裝置。
IC座測(cè)試系統(tǒng)高數(shù)量的PIN腳測(cè)試能力，重復(fù)性高，四線低阻測(cè)試以及自動(dòng)學(xué)習(xí)功能，適合IC座的開路及連通性能測(cè)試。
老化板系統(tǒng)高數(shù)量的PIN腳測(cè)試能力，高重復(fù)性和性，復(fù)雜的阻測(cè)量和多通道加上自動(dòng)學(xué)習(xí)功能，使得其適合測(cè)試包括老化板在內(nèi)的各種類型的板。
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