半導(dǎo)體膜厚測(cè)試儀檢測(cè)器。X射線檢測(cè)器主要由光電管和前置放大器組成。光電管 的陰加有高壓(通常幾百伏)。當(dāng)X射線光子射到光電管的陰時(shí)產(chǎn)生電子,在陰電壓的作用下,把陰的每個(gè)電子(假設(shè)每放大n個(gè)電子)增加到d (d為數(shù))個(gè)電子,即放大管電流,終到達(dá)陽(yáng),然后通過(guò)前置放大器把管電流放大并轉(zhuǎn)換成電壓形式。
半導(dǎo)體膜厚測(cè)試儀應(yīng)用范圍
* 測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測(cè)量范圍從17(Cl)到92(U);
* 5 層 (4 鍍層 + 基材) / 24 元素 / 共存元素校正;
* 組成成分分析時(shí)可同時(shí)測(cè)定24種元素;
* 鍍液中元素含量分析;
* 元素光譜定性分析;
* 基材分析;
生產(chǎn)商及儀器型號(hào):
制造商:美國(guó)BOWMAN公司
原產(chǎn)地:美國(guó)
型 號(hào):BA 100









