臺式膜厚測試儀檢測器。X射線檢測器主要由光電管和前置放大器組成。光電管 的陰加有高壓(通常幾百伏)。當X射線光子射到光電管的陰時產(chǎn)生電子,在陰電壓的作用下,把陰的每個電子(假設每放大n個電子)增加到d (d為數(shù))個電子,即放大管電流,終到達陽,然后通過前置放大器把管電流放大并轉(zhuǎn)換成電壓形式。
臺式膜厚測試儀軟體說明:
* 電腦操作系統(tǒng) XP系統(tǒng)
* 測量膜厚元素范圍:元素周期表13—92號元素間的鍍層,
使用FP法充許各元素鍍層次序的自由組合測量層層次,多可以測量四層(加基材多五層)
* 儀器支持二種鍍層厚度計算方法
(1)、無標準片的FP法(Fundamental Parameter)數(shù)學計算方法。
FP法名詞解釋:即在沒有標準塊的前提下,一樣能測量,此方式是通過儀器直接讀取鍍層元能量信息,通過各無素能量信號的強弱或設定的各無素比例參數(shù),以一種數(shù)學的方式直接計算鍍的厚度。因為它不需要標準塊,因此它不受標準塊的限制,在沒有各種合金鍍層標準塊的情況下樣的測量各種二元、三元合金鍍層)到目前為止,bowman是世界上可實現(xiàn)此種新型測試技術的膜厚測量品牌,此技術已使用了17年。
(2)、支持傳統(tǒng)的帶標準塊的檢量線法,即通過鍍層標準塊建立測試程式檔案測量相對應的鍍層厚度。









