x熒光膜厚儀檢測(cè)器。X射線檢測(cè)器主要由光電管和前置放大器組成。光電管 的陰加有高壓(通常幾百伏)。當(dāng)X射線光子射到光電管的陰時(shí)產(chǎn)生電子,在陰電壓的作用下,把陰的每個(gè)電子(假設(shè)每放大n個(gè)電子)增加到d (d為數(shù))個(gè)電子,即放大管電流,終到達(dá)陽(yáng),然后通過(guò)前置放大器把管電流放大并轉(zhuǎn)換成電壓形式。
x熒光膜厚儀可測(cè)元素范圍:鋁(AL) –鈾(U)。
可測(cè)量厚度范圍:原子序22-25,0.1-0.8μm26-40,0.05-35μm43-52,0.1-100μm72-82,0.05-5μm。
自動(dòng)測(cè)量功能:編程測(cè)量,自定測(cè)量修正,測(cè)量功能。
底材修正:已知樣品修正。
定性分析功能:光譜表示,光譜比較。
定量分析功能:合金成份,分析數(shù)據(jù)。









