※兼容有球無球測試,IC限位框可更換,相比同類產(chǎn)品具有使用壽命長、通用性廣(支持尺寸:14mmX18mm);
※電壓可調(diào)設(shè)計,同時具備過流保護功能,可以測試flash與主控芯片電流(加電流表可監(jiān)測電);
※支持熱拔插,同時支持通過SD接口、排針與相應(yīng)設(shè)備連接測試;
※同時兼容:東芝、三星、海力士、Intel、Sandisk(新帝)等同樣封裝的 IT、8BIT eMMC 閃存
記憶體。如圖示(相應(yīng) PIN 腳定義一樣);
※同時兼容 169-FBGA 153-FBGA;
※彈片采用鈹銅經(jīng)高模具沖壓成形,頭形仿探針設(shè)計,后期加硬、加厚鍍金層處理,從而產(chǎn)品穩(wěn)定性及耐用性;
※采用通孔焊接結(jié)構(gòu)接觸良好,socket與PCBA采用定位孔結(jié)合方便更換;
※采用下壓式結(jié)構(gòu),更加便于自動化測試,操作方便簡單;
※采用浮板結(jié)構(gòu),定位,取放IC方便,工作效率更高








