x熒光膜厚測(cè)試儀檢測(cè)器。X射線檢測(cè)器主要由光電管和前置放大器組成。光電管 的陰加有高壓(通常幾百伏)。當(dāng)X射線光子射到光電管的陰時(shí)產(chǎn)生電子,在陰電壓的作用下,把陰的每個(gè)電子(假設(shè)每放大n個(gè)電子)增加到d (d為數(shù))個(gè)電子,即放大管電流,終到達(dá)陽(yáng),然后通過(guò)前置放大器把管電流放大并轉(zhuǎn)換成電壓形式。
x熒光膜厚測(cè)試儀x射線的原理是X射線和紫外線與一樣是一種電磁波??梢暪饩€的波長(zhǎng)為0.000001 m (1μm)左右。
對(duì)某物質(zhì)進(jìn)行X射線照射時(shí),可以觀測(cè)到主要以下3種X射線。
(1) 螢光X射線
(2) 散亂X射線
(3) 透過(guò)X射線
膜厚測(cè)試儀,分為手持式和臺(tái)式二種,手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀,電渦流鍍層測(cè)厚儀,熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小.來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。
臺(tái)式的熒光X射線膜厚測(cè)試儀,是通過(guò)X射線穿透金屬元素樣品時(shí)產(chǎn)生量的光子,俗稱為二次熒光,,在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值。









