x熒光膜厚測試儀檢測器。X射線檢測器主要由光電管和前置放大器組成。光電管 的陰加有高壓(通常幾百伏)。當X射線光子射到光電管的陰時產(chǎn)生電子,在陰電壓的作用下,把陰的每個電子(假設每放大n個電子)增加到d (d為數(shù))個電子,即放大管電流,終到達陽,然后通過前置放大器把管電流放大并轉(zhuǎn)換成電壓形式。
x熒光膜厚測試儀x射線的原理是X射線和紫外線與一樣是一種電磁波??梢暪饩€的波長為0.000001 m (1μm)左右。
對某物質(zhì)進行X射線照射時,可以觀測到主要以下3種X射線。
(1) 螢光X射線
(2) 散亂X射線
(3) 透過X射線
膜厚測試儀,分為手持式和臺式二種,手持式又有磁感應鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時,利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小.來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。
臺式的熒光X射線膜厚測試儀,是通過X射線穿透金屬元素樣品時產(chǎn)生量的光子,俗稱為二次熒光,,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。









