CST-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實際需要和GB／T299-1994《金屬夏比沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種于檢驗夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比，以確定被檢測的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點是操作簡便，對比直觀。
　　
　　工作原理：　
　　本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物體，再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。　
　　
　　根據(jù)需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上，再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方位一致。
　　
　　主要參數(shù)：　
　　投影屏直徑：180mm　　
　　工作臺尺寸：　　
　　方工作臺尺寸：110×125mm　
　　圓工作臺直徑：90mm　
　　工作臺玻璃直徑：70mm　
　　工作臺行程：　
　　縱向：&plun;10mm
　　橫向：&plun;10mm
　　升降：&plun;12mm（無刻度）
　　工作臺轉(zhuǎn)動范圍：0-360°（無刻度）　
　　放大倍數(shù)：　
　　儀器放大倍率：50X　
　　物鏡放大倍率：2.5X
　　投影物鏡放大倍率：20X
　　光源（鹵鎢燈）：12V　100W
　　外形尺寸：515×224×603mm（長×寬×高）
　　重量：約18Kg。