ITT-IC芯片測試儀
一、產(chǎn)品概述
目前電子企業(yè)所用的元器件質(zhì)量狀態(tài)令人擔憂，市場的飽和、從業(yè)人員的增加都加劇了市場競爭激烈程度，薄弱的利潤，驅(qū)使著從業(yè)人員不斷“”——回收國外的電子、采購芯片廠的廢品、打磨、翻新、金屬封裝殼體置換、商業(yè)級改工業(yè)級或級，速度等級修改
二、產(chǎn)品特點：便攜式設(shè)計，但需要電源供電，攜帶方便；支持外接顯示器，鼠標及鍵盤；
主機和工業(yè)級擴展分機可以單獨工作，也可主機控制擴展分機進行操作，擴展分機，具有良好的溫度測試范圍（-55℃～＋125℃），可以對芯片進行高低溫以及老化測試；
模塊化設(shè)計，良好的擴展性，可以滿足不同的測試需求；
數(shù)量眾多的Load board以及各種不同封裝的Socket；
內(nèi)置芯片測試程序，一鍵式操作，使用簡單；
測試結(jié)果直接顯示PASS or FAIL，操作人員不需要知識；
測試參數(shù)豐富可調(diào)，可輸出完整的測試；
測試元器件庫快速擴充，有眾多的技術(shù)人員進行的測試開發(fā)；
三、功能簡介：測試器件的輸入電阻、工作電流、工作電壓、器件功能、性能測試；
器件等級篩選，可的區(qū)分商業(yè)級、工業(yè)級以及級；
驗證器件的生產(chǎn)信息以及對器件編程校驗等；
輸出完整的測試，顯示器件的VI特性；
支持各種中小規(guī)模、大規(guī)模、規(guī)模數(shù)字集成電路：
包括各種4000、74/54系列數(shù)字集成電路；
各種處理器（ARM、MIPS、POWERPC、DSP）；
存儲器電路（DDR、DDR2、SDRAM、SRAM、ROM、PROM、EPROM、EEPROM、FLASH，F(xiàn)IFO等）；
可編程邏輯電路（FPGA、CPLD、PAL、GAL、PLD等）；
各種總線接口電路（RS-232、RS-422、IEEE488、RS-485等）；
定時器電路、數(shù)字電位器等；
同時可測試多種模擬及混合集成電路，包括：模擬開關(guān)、ADC/DAC轉(zhuǎn)換器、運算放大器、音頻功率放大器、電壓調(diào)整器、電壓基準、光耦電路、電源管理芯片等。
四、適用范圍：
產(chǎn)品流通環(huán)節(jié)的商家進貨質(zhì)量控制，幫助分銷商、貿(mào)易商以及IC從業(yè)人員辨別芯片真?zhèn)危袩o翻新，可以對芯片進行功能性研證。避免由于芯片質(zhì)量問題引起不要的紛爭。
整機企業(yè)質(zhì)量檢測部門入廠檢測，地幫助企業(yè)檢驗人員快速準確的完成物料的來料檢測，完善企業(yè)的質(zhì)量管理體系，產(chǎn)品的生產(chǎn)質(zhì)量。
維修企業(yè)芯片檢測：很多電路由于過流、過壓以及其他原因造成某個器件故障影響到整板工作，維修人員在維修電路板時，可以利用Chip Tter芯片測試儀對從板上拆下的器件進行測試，對于測試合格的芯片可以在利用，可以效率。
質(zhì)量評估和性分析測試，很多如74系列的邏輯器件，生產(chǎn)廠家眾多，對于耦合度較低的電路，須在批量生產(chǎn)時對所用的器件進行質(zhì)量評估和性分析，電路的穩(wěn)定工作。
五、服務項目：
承接芯片測試服務，可測試各種邏輯器件、處理器芯片、可編程邏輯器件、存儲器芯片、各種總線接口電路、定時器、數(shù)字電位器、模擬開關(guān)、ADC、DAC、運算放大器、音頻功率放大器、電壓調(diào)整器件、電壓基準、光耦電路、電源管理芯片等
芯片測試設(shè)備研發(fā)，可根據(jù)客戶的要求訂制各種型號的芯片測試設(shè)備。由于多功能的測試設(shè)備價格高昂，很多客戶盡管有需求，但是為了節(jié)約成本，無法購買。針對此種情況，我們可以為您提供訂制服務。
芯片質(zhì)量分析與性測試，以及老化、篩選試驗，很多科研院所以及企業(yè)的產(chǎn)品應用領(lǐng)域都有著的要求，為了這種要求，往往對于產(chǎn)品所用到的器件進行各種嚴格的篩選，如高低溫測試、老化測試以及參數(shù)性能驗證，利用Chip Tter芯片測試儀可而且快速的完成。
制作測試夾具，開發(fā)芯片測試程序，可以幫助客戶制作各種不同封裝，管腳數(shù)量較多的測試夾具，利用工程師多年的研發(fā)經(jīng)驗，快速的幫客戶開發(fā)針對芯片各項參數(shù)的測試程序。
批量測試方案制定完善，對于使用大批量芯片的客戶，為了測試效率，我們可以為您提供各種自動的測試方案，如增加機械手，自動抓取芯片。
一、產(chǎn)品概述
目前電子企業(yè)所用的元器件質(zhì)量狀態(tài)令人擔憂，市場的飽和、從業(yè)人員的增加都加劇了市場競爭激烈程度，薄弱的利潤，驅(qū)使著從業(yè)人員不斷“”——回收國外的電子、采購芯片廠的廢品、打磨、翻新、金屬封裝殼體置換、商業(yè)級改工業(yè)級或級，速度等級修改
二、產(chǎn)品特點：便攜式設(shè)計，但需要電源供電，攜帶方便；支持外接顯示器，鼠標及鍵盤；
主機和工業(yè)級擴展分機可以單獨工作，也可主機控制擴展分機進行操作，擴展分機，具有良好的溫度測試范圍（-55℃～＋125℃），可以對芯片進行高低溫以及老化測試；
模塊化設(shè)計，良好的擴展性，可以滿足不同的測試需求；
數(shù)量眾多的Load board以及各種不同封裝的Socket；
內(nèi)置芯片測試程序，一鍵式操作，使用簡單；
測試結(jié)果直接顯示PASS or FAIL，操作人員不需要知識；
測試參數(shù)豐富可調(diào)，可輸出完整的測試；
測試元器件庫快速擴充，有眾多的技術(shù)人員進行的測試開發(fā)；
三、功能簡介：測試器件的輸入電阻、工作電流、工作電壓、器件功能、性能測試；
器件等級篩選，可的區(qū)分商業(yè)級、工業(yè)級以及級；
驗證器件的生產(chǎn)信息以及對器件編程校驗等；
輸出完整的測試，顯示器件的VI特性；
支持各種中小規(guī)模、大規(guī)模、規(guī)模數(shù)字集成電路：
包括各種4000、74/54系列數(shù)字集成電路；
各種處理器（ARM、MIPS、POWERPC、DSP）；
存儲器電路（DDR、DDR2、SDRAM、SRAM、ROM、PROM、EPROM、EEPROM、FLASH，F(xiàn)IFO等）；
可編程邏輯電路（FPGA、CPLD、PAL、GAL、PLD等）；
各種總線接口電路（RS-232、RS-422、IEEE488、RS-485等）；
定時器電路、數(shù)字電位器等；
同時可測試多種模擬及混合集成電路，包括：模擬開關(guān)、ADC/DAC轉(zhuǎn)換器、運算放大器、音頻功率放大器、電壓調(diào)整器、電壓基準、光耦電路、電源管理芯片等。
四、適用范圍：
產(chǎn)品流通環(huán)節(jié)的商家進貨質(zhì)量控制，幫助分銷商、貿(mào)易商以及IC從業(yè)人員辨別芯片真?zhèn)危袩o翻新，可以對芯片進行功能性研證。避免由于芯片質(zhì)量問題引起不要的紛爭。
整機企業(yè)質(zhì)量檢測部門入廠檢測，地幫助企業(yè)檢驗人員快速準確的完成物料的來料檢測，完善企業(yè)的質(zhì)量管理體系，產(chǎn)品的生產(chǎn)質(zhì)量。
維修企業(yè)芯片檢測：很多電路由于過流、過壓以及其他原因造成某個器件故障影響到整板工作，維修人員在維修電路板時，可以利用Chip Tter芯片測試儀對從板上拆下的器件進行測試，對于測試合格的芯片可以在利用，可以效率。
質(zhì)量評估和性分析測試，很多如74系列的邏輯器件，生產(chǎn)廠家眾多，對于耦合度較低的電路，須在批量生產(chǎn)時對所用的器件進行質(zhì)量評估和性分析，電路的穩(wěn)定工作。
五、服務項目：
承接芯片測試服務，可測試各種邏輯器件、處理器芯片、可編程邏輯器件、存儲器芯片、各種總線接口電路、定時器、數(shù)字電位器、模擬開關(guān)、ADC、DAC、運算放大器、音頻功率放大器、電壓調(diào)整器件、電壓基準、光耦電路、電源管理芯片等
芯片測試設(shè)備研發(fā)，可根據(jù)客戶的要求訂制各種型號的芯片測試設(shè)備。由于多功能的測試設(shè)備價格高昂，很多客戶盡管有需求，但是為了節(jié)約成本，無法購買。針對此種情況，我們可以為您提供訂制服務。
芯片質(zhì)量分析與性測試，以及老化、篩選試驗，很多科研院所以及企業(yè)的產(chǎn)品應用領(lǐng)域都有著的要求，為了這種要求，往往對于產(chǎn)品所用到的器件進行各種嚴格的篩選，如高低溫測試、老化測試以及參數(shù)性能驗證，利用Chip Tter芯片測試儀可而且快速的完成。
制作測試夾具，開發(fā)芯片測試程序，可以幫助客戶制作各種不同封裝，管腳數(shù)量較多的測試夾具，利用工程師多年的研發(fā)經(jīng)驗，快速的幫客戶開發(fā)針對芯片各項參數(shù)的測試程序。
批量測試方案制定完善，對于使用大批量芯片的客戶，為了測試效率，我們可以為您提供各種自動的測試方案，如增加機械手，自動抓取芯片。
