ITT-IC芯片測(cè)試儀
一、產(chǎn)品概述
目前電子企業(yè)所用的元器件質(zhì)量狀態(tài)令人擔(dān)憂，市場(chǎng)的飽和、從業(yè)人員的增加都加劇了市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)激烈程度，薄弱的利潤(rùn)，驅(qū)使著從業(yè)人員不斷“”——回收國(guó)外的電子、采購(gòu)芯片廠的廢品、打磨、翻新、金屬封裝殼體置換、商業(yè)級(jí)改工業(yè)級(jí)或級(jí)，速度等級(jí)修改
二、產(chǎn)品特點(diǎn)：便攜式設(shè)計(jì)，但需要電源供電，攜帶方便；支持外接顯示器，鼠標(biāo)及鍵盤(pán)；
主機(jī)和工業(yè)級(jí)擴(kuò)展分機(jī)可以單獨(dú)工作，也可主機(jī)控制擴(kuò)展分機(jī)進(jìn)行操作，擴(kuò)展分機(jī)，具有良好的溫度測(cè)試范圍（-55℃～＋125℃），可以對(duì)芯片進(jìn)行高低溫以及老化測(cè)試；
模塊化設(shè)計(jì)，良好的擴(kuò)展性，可以滿足不同的測(cè)試需求；
數(shù)量眾多的Load board以及各種不同封裝的Socket；
內(nèi)置芯片測(cè)試程序，一鍵式操作，使用簡(jiǎn)單；
測(cè)試結(jié)果直接顯示PASS or FAIL，操作人員不需要知識(shí)；
測(cè)試參數(shù)豐富可調(diào)，可輸出完整的測(cè)試；
測(cè)試元器件庫(kù)快速擴(kuò)充，有眾多的技術(shù)人員進(jìn)行的測(cè)試開(kāi)發(fā)；
三、功能簡(jiǎn)介：測(cè)試器件的輸入電阻、工作電流、工作電壓、器件功能、性能測(cè)試；
器件等級(jí)篩選，可的區(qū)分商業(yè)級(jí)、工業(yè)級(jí)以及級(jí)；
驗(yàn)證器件的生產(chǎn)信息以及對(duì)器件編程校驗(yàn)等；
輸出完整的測(cè)試，顯示器件的VI特性；
支持各種中小規(guī)模、大規(guī)模、規(guī)模數(shù)字集成電路：
包括各種4000、74/54系列數(shù)字集成電路；
各種處理器（ARM、MIPS、POWERPC、DSP）；
存儲(chǔ)器電路（DDR、DDR2、SDRAM、SRAM、ROM、PROM、EPROM、EEPROM、FLASH，F(xiàn)IFO等）；
可編程邏輯電路（FPGA、CPLD、PAL、GAL、PLD等）；
各種總線接口電路（RS-232、RS-422、IEEE488、RS-485等）；
定時(shí)器電路、數(shù)字電位器等；
同時(shí)可測(cè)試多種模擬及混合集成電路，包括：模擬開(kāi)關(guān)、ADC/DAC轉(zhuǎn)換器、運(yùn)算放大器、音頻功率放大器、電壓調(diào)整器、電壓基準(zhǔn)、光耦電路、電源管理芯片等。
四、適用范圍：
產(chǎn)品流通環(huán)節(jié)的商家進(jìn)貨質(zhì)量控制，幫助分銷商、貿(mào)易商以及IC從業(yè)人員辨別芯片真?zhèn)?，有無(wú)翻新，可以對(duì)芯片進(jìn)行功能性研證。避免由于芯片質(zhì)量問(wèn)題引起不要的紛爭(zhēng)。
整機(jī)企業(yè)質(zhì)量檢測(cè)部門入廠檢測(cè)，地幫助企業(yè)檢驗(yàn)人員快速準(zhǔn)確的完成物料的來(lái)料檢測(cè)，完善企業(yè)的質(zhì)量管理體系，產(chǎn)品的生產(chǎn)質(zhì)量。
維修企業(yè)芯片檢測(cè)：很多電路由于過(guò)流、過(guò)壓以及其他原因造成某個(gè)器件故障影響到整板工作，維修人員在維修電路板時(shí)，可以利用Chip Tter芯片測(cè)試儀對(duì)從板上拆下的器件進(jìn)行測(cè)試，對(duì)于測(cè)試合格的芯片可以在利用，可以效率。
質(zhì)量評(píng)估和性分析測(cè)試，很多如74系列的邏輯器件，生產(chǎn)廠家眾多，對(duì)于耦合度較低的電路，須在批量生產(chǎn)時(shí)對(duì)所用的器件進(jìn)行質(zhì)量評(píng)估和性分析，電路的穩(wěn)定工作。
五、服務(wù)項(xiàng)目：
承接芯片測(cè)試服務(wù)，可測(cè)試各種邏輯器件、處理器芯片、可編程邏輯器件、存儲(chǔ)器芯片、各種總線接口電路、定時(shí)器、數(shù)字電位器、模擬開(kāi)關(guān)、ADC、DAC、運(yùn)算放大器、音頻功率放大器、電壓調(diào)整器件、電壓基準(zhǔn)、光耦電路、電源管理芯片等
芯片測(cè)試設(shè)備研發(fā)，可根據(jù)客戶的要求訂制各種型號(hào)的芯片測(cè)試設(shè)備。由于多功能的測(cè)試設(shè)備價(jià)格高昂，很多客戶盡管有需求，但是為了節(jié)約成本，無(wú)法購(gòu)買。針對(duì)此種情況，我們可以為您提供訂制服務(wù)。
芯片質(zhì)量分析與性測(cè)試，以及老化、篩選試驗(yàn)，很多科研院所以及企業(yè)的產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域都有著的要求，為了這種要求，往往對(duì)于產(chǎn)品所用到的器件進(jìn)行各種嚴(yán)格的篩選，如高低溫測(cè)試、老化測(cè)試以及參數(shù)性能驗(yàn)證，利用Chip Tter芯片測(cè)試儀可而且快速的完成。
制作測(cè)試夾具，開(kāi)發(fā)芯片測(cè)試程序，可以幫助客戶制作各種不同封裝，管腳數(shù)量較多的測(cè)試夾具，利用工程師多年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，快速的幫客戶開(kāi)發(fā)針對(duì)芯片各項(xiàng)參數(shù)的測(cè)試程序。
批量測(cè)試方案制定完善，對(duì)于使用大批量芯片的客戶，為了測(cè)試效率，我們可以為您提供各種自動(dòng)的測(cè)試方案，如增加機(jī)械手，自動(dòng)抓取芯片。
一、產(chǎn)品概述
目前電子企業(yè)所用的元器件質(zhì)量狀態(tài)令人擔(dān)憂，市場(chǎng)的飽和、從業(yè)人員的增加都加劇了市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)激烈程度，薄弱的利潤(rùn)，驅(qū)使著從業(yè)人員不斷“”——回收國(guó)外的電子、采購(gòu)芯片廠的廢品、打磨、翻新、金屬封裝殼體置換、商業(yè)級(jí)改工業(yè)級(jí)或級(jí)，速度等級(jí)修改
二、產(chǎn)品特點(diǎn)：便攜式設(shè)計(jì)，但需要電源供電，攜帶方便；支持外接顯示器，鼠標(biāo)及鍵盤(pán)；
主機(jī)和工業(yè)級(jí)擴(kuò)展分機(jī)可以單獨(dú)工作，也可主機(jī)控制擴(kuò)展分機(jī)進(jìn)行操作，擴(kuò)展分機(jī)，具有良好的溫度測(cè)試范圍（-55℃～＋125℃），可以對(duì)芯片進(jìn)行高低溫以及老化測(cè)試；
模塊化設(shè)計(jì)，良好的擴(kuò)展性，可以滿足不同的測(cè)試需求；
數(shù)量眾多的Load board以及各種不同封裝的Socket；
內(nèi)置芯片測(cè)試程序，一鍵式操作，使用簡(jiǎn)單；
測(cè)試結(jié)果直接顯示PASS or FAIL，操作人員不需要知識(shí)；
測(cè)試參數(shù)豐富可調(diào)，可輸出完整的測(cè)試；
測(cè)試元器件庫(kù)快速擴(kuò)充，有眾多的技術(shù)人員進(jìn)行的測(cè)試開(kāi)發(fā)；
三、功能簡(jiǎn)介：測(cè)試器件的輸入電阻、工作電流、工作電壓、器件功能、性能測(cè)試；
器件等級(jí)篩選，可的區(qū)分商業(yè)級(jí)、工業(yè)級(jí)以及級(jí)；
驗(yàn)證器件的生產(chǎn)信息以及對(duì)器件編程校驗(yàn)等；
輸出完整的測(cè)試，顯示器件的VI特性；
支持各種中小規(guī)模、大規(guī)模、規(guī)模數(shù)字集成電路：
包括各種4000、74/54系列數(shù)字集成電路；
各種處理器（ARM、MIPS、POWERPC、DSP）；
存儲(chǔ)器電路（DDR、DDR2、SDRAM、SRAM、ROM、PROM、EPROM、EEPROM、FLASH，F(xiàn)IFO等）；
可編程邏輯電路（FPGA、CPLD、PAL、GAL、PLD等）；
各種總線接口電路（RS-232、RS-422、IEEE488、RS-485等）；
定時(shí)器電路、數(shù)字電位器等；
同時(shí)可測(cè)試多種模擬及混合集成電路，包括：模擬開(kāi)關(guān)、ADC/DAC轉(zhuǎn)換器、運(yùn)算放大器、音頻功率放大器、電壓調(diào)整器、電壓基準(zhǔn)、光耦電路、電源管理芯片等。
四、適用范圍：
產(chǎn)品流通環(huán)節(jié)的商家進(jìn)貨質(zhì)量控制，幫助分銷商、貿(mào)易商以及IC從業(yè)人員辨別芯片真?zhèn)?，有無(wú)翻新，可以對(duì)芯片進(jìn)行功能性研證。避免由于芯片質(zhì)量問(wèn)題引起不要的紛爭(zhēng)。
整機(jī)企業(yè)質(zhì)量檢測(cè)部門入廠檢測(cè)，地幫助企業(yè)檢驗(yàn)人員快速準(zhǔn)確的完成物料的來(lái)料檢測(cè)，完善企業(yè)的質(zhì)量管理體系，產(chǎn)品的生產(chǎn)質(zhì)量。
維修企業(yè)芯片檢測(cè)：很多電路由于過(guò)流、過(guò)壓以及其他原因造成某個(gè)器件故障影響到整板工作，維修人員在維修電路板時(shí)，可以利用Chip Tter芯片測(cè)試儀對(duì)從板上拆下的器件進(jìn)行測(cè)試，對(duì)于測(cè)試合格的芯片可以在利用，可以效率。
質(zhì)量評(píng)估和性分析測(cè)試，很多如74系列的邏輯器件，生產(chǎn)廠家眾多，對(duì)于耦合度較低的電路，須在批量生產(chǎn)時(shí)對(duì)所用的器件進(jìn)行質(zhì)量評(píng)估和性分析，電路的穩(wěn)定工作。
五、服務(wù)項(xiàng)目：
承接芯片測(cè)試服務(wù)，可測(cè)試各種邏輯器件、處理器芯片、可編程邏輯器件、存儲(chǔ)器芯片、各種總線接口電路、定時(shí)器、數(shù)字電位器、模擬開(kāi)關(guān)、ADC、DAC、運(yùn)算放大器、音頻功率放大器、電壓調(diào)整器件、電壓基準(zhǔn)、光耦電路、電源管理芯片等
芯片測(cè)試設(shè)備研發(fā)，可根據(jù)客戶的要求訂制各種型號(hào)的芯片測(cè)試設(shè)備。由于多功能的測(cè)試設(shè)備價(jià)格高昂，很多客戶盡管有需求，但是為了節(jié)約成本，無(wú)法購(gòu)買。針對(duì)此種情況，我們可以為您提供訂制服務(wù)。
芯片質(zhì)量分析與性測(cè)試，以及老化、篩選試驗(yàn)，很多科研院所以及企業(yè)的產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域都有著的要求，為了這種要求，往往對(duì)于產(chǎn)品所用到的器件進(jìn)行各種嚴(yán)格的篩選，如高低溫測(cè)試、老化測(cè)試以及參數(shù)性能驗(yàn)證，利用Chip Tter芯片測(cè)試儀可而且快速的完成。
制作測(cè)試夾具，開(kāi)發(fā)芯片測(cè)試程序，可以幫助客戶制作各種不同封裝，管腳數(shù)量較多的測(cè)試夾具，利用工程師多年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，快速的幫客戶開(kāi)發(fā)針對(duì)芯片各項(xiàng)參數(shù)的測(cè)試程序。
批量測(cè)試方案制定完善，對(duì)于使用大批量芯片的客戶，為了測(cè)試效率，我們可以為您提供各種自動(dòng)的測(cè)試方案，如增加機(jī)械手，自動(dòng)抓取芯片。
