可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱的特點(diǎn)推出了一款具有比的可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品，大大滿足了客戶對(duì)此可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱的需求。富易達(dá)儀器有限公司生產(chǎn)的可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱已在各大領(lǐng)域立足并將一如既往的打造更為優(yōu)良的可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱來滿足各行各業(yè)對(duì)本可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱的需求。在北京、陜西、湖南、廣西、江蘇、江西、河南、河北、湖北、重慶等各大城市的可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱中，已有很大一部分是富易達(dá)儀器有限公司生產(chǎn)的可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱，更有為客戶量身定做的可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱，更進(jìn)一步的鞏固了可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱在市場(chǎng)的占有率。此款可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱已成為目前富易達(dá)儀器有限公司在可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱領(lǐng)域中技術(shù)成熟的可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品。
　　
　　可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱／產(chǎn)品型號(hào)規(guī)格：（標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格）
　　型號(hào)規(guī)格  工作室尺寸（mm）
　　THP80  400×400×500
　　THP100  400×500×500
　　THP120  400×500×600
　　THP150  500×500×600
　　THP225  500×600×750
　　THP408  600×800×850
　　THP500  700×800×900
　　THP800  800×1000×1000
　　THP1000  1000×1000×1000
　　尺寸請(qǐng)來電訂制！非標(biāo)定制不加收設(shè)計(jì)費(fèi)等其它費(fèi)用！
　　
　　可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱／主要技術(shù)指標(biāo)：
　　1、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃～＋100（150）℃
　　2、濕度范圍：10％、20％、30％～98％R.H.
　　3、溫度波動(dòng)度：±0.5℃
　　4、溫度偏差：≤2℃
　　5、濕度偏差：＋2-3％RH
　　
　　可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱／結(jié)構(gòu)特征：
　　該可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成?？沙淌降蜏睾銣睾銤裨囼?yàn)箱的箱體外殼一般采用冷軋鋼板靜電噴塑，或根據(jù)客戶需要采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼板，內(nèi)膽均采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼板制成，箱門中間設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗(yàn)情況?？沙淌降蜏睾銣睾銤裨囼?yàn)箱的外型整體美觀大方?？沙淌降蜏睾銣睾銤裨囼?yàn)箱的保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡加上少量的細(xì)玻璃棉，具有強(qiáng)度高，保溫性有好等特點(diǎn)。該可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要溫濕度控制儀采用可程式觸摸屏真彩色顯示的濕度控制器（韓國三元TEMI、日本OYO、美國霍尼威爾等溫濕度控制器），另一種經(jīng)濟(jì)型的可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱控制器可采用非觸摸屏數(shù)顯的控制器（韓國三元TEMI300）；大大的了可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱控制的穩(wěn)定性?？沙淌降蜏睾銣睾銤裨囼?yàn)箱的加濕系統(tǒng)采用的是國際的BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式；可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱的制冷系統(tǒng)采用的全封閉原裝法國泰康壓縮機(jī)組，機(jī)械式單級(jí)制冷或復(fù)疊式低溫回路系統(tǒng)，全自動(dòng)控制與保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)?？沙淌降蜏睾銣睾銤裨囼?yàn)箱的加熱采用不銹鋼帶散熱翅片的優(yōu)質(zhì)加熱管，更率，更優(yōu)性能。
　　
　　該可程式低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱是按照下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造的：
　　GB　10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB　10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB　10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB　11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB／T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
　　GB／T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
　　GB2423.22-87電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法
　　GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
　　GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
　　GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法
　　GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)dB：交變濕熱試驗(yàn)方法
　　GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則