BC3193半導體分立器件測試系統(tǒng)
　　測試系統(tǒng)用途及主要測試對象：二管，三管，可控硅，場效應(yīng)管，（IGBT）緣柵雙三管，達林頓矩陣，單結(jié)晶體管，光敏二管，光敏三管，光電耦合器，固態(tài)繼電器等，DC／DC模塊參數(shù)測試儀，MOS測試儀，三管開關(guān)時間測試儀。
　　
　　二管及整流橋：VR、IR、VF、VZ、HVZ、動態(tài)阻。
　　三管：BVCBO、BVCEO、BVCER、BVC、BVEBO、ICBO、ICEO、ICER、IC、IEBO、VC、VB、HFE.
　　可控硅：IGT、IH、IL、VGT、VON、BVAKF、BVAKR、BVAKO、IAKF、IAKR.
　　場效應(yīng)管：BVDSS、BVDSR、BVDSO、BVDGO、BVGSO、BVGSS、IDSS、IDSO、IGDO、IGSO、IDSR、VGS、VDS、VTH、gm.
　　達林頓管：VCAT、ICEO.R.S、IEBO、HFE、VBAT、BVCEO.IGBT、BVCGR、BVG、TG、VCT、VGETH.
　　光電耦合器：VF、IR、BVR、BVCEO、ICEO、R、VCAT.
　?。獪y試系統(tǒng)可對器件測試結(jié)果進行存儲和打印。
　?。獪y試原理合相應(yīng)的標準，標準和行業(yè)標準。
　?。捎妹}沖法測試功率參數(shù)，合國軍標并的抑制測試溫生。
　?。捎肒elvin測試原理，排除線路電阻及接觸電壓，使大電流的參數(shù)測試更準。