V-5000系列
業(yè)界的問題解決工具現(xiàn)在再次得到進(jìn)步。隆重推出的 CV-5000 系列,它能夠困難地解決高難度應(yīng)用。
11x 500 萬(wàn)像素CCD
在任何生產(chǎn)線上都可以進(jìn)行圖像處理
11x CCD 可 61.2 ms(16.3 次/ 秒)傳輸 500 萬(wàn)像素(2432 x 2050像素)。 生產(chǎn)線也可享受高圖像處理帶來(lái)的好處。 的 CV-5000 系列多可使用 4 個(gè) 500 萬(wàn)像素的 CCD,并同時(shí)傳輸圖像,因而多可實(shí)現(xiàn) 2000 萬(wàn)像素的高檢測(cè)。
3+1 處理器技術(shù)
平行處理系統(tǒng)
3 + 1 平行處理結(jié)構(gòu)能夠滿足高容量 500 萬(wàn)像素圖像、顏色處理以及執(zhí)行復(fù)雜數(shù)字運(yùn)算的算法的繁重處理需求。
16種不同的 CCD
用戶可針對(duì)應(yīng)用方式選擇適合的CCD
用戶可從業(yè)界的 500 萬(wàn)像素、200 萬(wàn)像素及小型 CCD 中選擇適合應(yīng)用需求的CCD。 每款 CCD 均提供彩色和黑白型號(hào)。 CV-5000 系列多可同時(shí)運(yùn)行四種不同的CCD,從而使多 CCD 應(yīng)用更。
隆重推出可擴(kuò)展的控制器結(jié)構(gòu)
新照明控制方式
該結(jié)構(gòu)允許用戶通過擴(kuò)展單元來(lái)靈,其中包括 CCD 擴(kuò)展單元和照明控制擴(kuò)展單元。 用戶可以只留下要的功能,這樣不能夠滿足要求、減少成本,同時(shí)仍具備未來(lái)升級(jí)的靈。
針對(duì)高難度應(yīng)用的缺陷檢測(cè)算法
缺陷檢測(cè)應(yīng)用的解決方案
為檢測(cè)形狀不規(guī)則的輪廓上的異物或毛刺,現(xiàn)已增加多種新算法。 這些新算法還能過濾反光或其它背景干擾,從而只突出瑕疵。
- Trend Edge缺陷檢測(cè)
檢測(cè)模制樹脂物品的毛邊和缺口
檢測(cè)圓形邊緣的缺口,過去很難,現(xiàn)在得以輕松檢測(cè)。
- 實(shí)時(shí)濃淡補(bǔ)正
即使背景的不規(guī)則引起明暗差別也能穩(wěn)定檢測(cè)異物。
的圖像增強(qiáng)處理
在惡劣的條件下實(shí)現(xiàn)的檢測(cè)
前處理功能已做出重大改進(jìn),可消除工件變化所造成的環(huán)境變化。 新增的“Fine Color 處理”功能可直接處理全色彩,以便從具有圖案或光線變化的背景中地提取缺陷。
在圓形金屬表面上進(jìn)行異物檢測(cè)
通過取消金屬反射突出異物
在對(duì)角線背景中進(jìn)行異物檢測(cè)
去除條紋,只顯示異物
ShapeTrax II?
在惡劣的條件以高和度檢測(cè)目標(biāo)物
ShapeTrax II 是邊緣形狀數(shù)據(jù)來(lái)檢測(cè)的搜索,即便目標(biāo)物上有污點(diǎn)、對(duì)比度較低或大小不一。 ShapeTrax II 能夠在惡劣的條件下地檢測(cè)定位十字標(biāo),并擁有業(yè)界的,0.025 像素。









