本設(shè)備廣泛應(yīng)用于航空航天、汽車摩托車、兵裝兵器、電工電子、化工冶金、質(zhì)檢計(jì)量、郵電通信、船舶鐵路等企事業(yè)單位及大中專院校和科研單位。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱是模擬試驗(yàn)產(chǎn)品在高溫、低溫試驗(yàn)下循環(huán)交替的檢測(cè)試驗(yàn),用來(lái)考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性,是產(chǎn)品模擬環(huán)境試驗(yàn)備設(shè)備。
參 照 標(biāo) 準(zhǔn)
GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.22-1993 試驗(yàn)N: 溫度變化試驗(yàn)方法
G150.5-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 溫度沖擊試驗(yàn)
G360.7-87 溫度沖擊試驗(yàn)方法








