基于光譜光度逆向工程可以測(cè)量紫外可見(jiàn)近紅外全光譜范圍內(nèi)薄膜材料的折射率n、吸收系數(shù)k與薄膜厚度d,?了強(qiáng)大的QA/QC分析與研究開(kāi)發(fā)。
Photon RT分光光度計(jì)高高重復(fù)性測(cè)量,光譜分辨率1.2nm,光度計(jì)的為0.0050,重復(fù)性0.0025,合各類研究分析的現(xiàn)代需求。裝置結(jié)實(shí)緊湊,可每天的頻繁使用。主機(jī)有一個(gè)大的蓋子,為測(cè)量艙提供一個(gè)簡(jiǎn)單和方便的通道,光學(xué)部件可放置。
測(cè)量能力:
???率T,Ts,Tp(0-75°角度范圍)
?。糠瓷渎省,Rs,Rp(8–75°角度范圍)
?根據(jù)給定入射角計(jì)算T(s+p)/2和R(s+p)/2
???樣品的光學(xué)密度,0–4(D)
?紫外可見(jiàn)近紅外全光譜范圍內(nèi)逆向工程的無(wú)衰減(自動(dòng))nkd測(cè)定
???偏振分束片的測(cè)量
???特定光譜范圍內(nèi)R和T的積分值
?。亢头瓷涞墓馍⑸涮卣骶€
?。款伾鴺?biāo)
???動(dòng)態(tài)測(cè)量








