X-ray 檢測機
X光檢測機
VJ Electronix Vertex A系列大，配置靈活，檢測區(qū)域覆蓋面積廣（20"×24"），可實現(xiàn)手動和自動的X光檢測。板上樣品導航功能提供了更為簡單的定位性能，使Vertex A系列高度適用于生產(chǎn)線及其它各種應用。
可供選擇的X光源（75kV，90kV，130kV，150kV）及探測器（2"/4"/6"圖像增強器或平板數(shù)字探測器）為您提供了多樣性的X射線檢測性能。
系統(tǒng)基礎參數(shù)
型號 A-75 A-90 A-130 A-150
光源 75kV 90 kV 130 kV 150 kV
焦點大小 45μ5μ6μ5μ
空間分辨率﹥10 lp/mm﹥40 lp/mm﹥40 lp/mm﹥40 lp/mm
總放大倍率-標配攝像頭﹥24X﹥130X﹥70X﹥60X
總放大倍率-高分辨率攝像頭﹥29X﹥240X﹥130X﹥110X
視野（可視區(qū)域）﹥2"﹥1.6"﹥2"﹥2"
編程能力選配標配
設備尺寸 70"×50"×62"（D×W×H）（2000mm×1422mm×1575mm）
離軸護：可用1或2個軸夾具；檢測范圍：20"×24"；基板尺寸：20¼"×24¼"
X光檢測機
VJ Electronix Vertex A系列大，配置靈活，檢測區(qū)域覆蓋面積廣（20"×24"），可實現(xiàn)手動和自動的X光檢測。板上樣品導航功能提供了更為簡單的定位性能，使Vertex A系列高度適用于生產(chǎn)線及其它各種應用。
可供選擇的X光源（75kV，90kV，130kV，150kV）及探測器（2"/4"/6"圖像增強器或平板數(shù)字探測器）為您提供了多樣性的X射線檢測性能。
系統(tǒng)基礎參數(shù)
型號 A-75 A-90 A-130 A-150
光源 75kV 90 kV 130 kV 150 kV
焦點大小 45μ5μ6μ5μ
空間分辨率﹥10 lp/mm﹥40 lp/mm﹥40 lp/mm﹥40 lp/mm
總放大倍率-標配攝像頭﹥24X﹥130X﹥70X﹥60X
總放大倍率-高分辨率攝像頭﹥29X﹥240X﹥130X﹥110X
視野（可視區(qū)域）﹥2"﹥1.6"﹥2"﹥2"
編程能力選配標配
設備尺寸 70"×50"×62"（D×W×H）（2000mm×1422mm×1575mm）
離軸護：可用1或2個軸夾具；檢測范圍：20"×24"；基板尺寸：20¼"×24¼"
