X-MET5100 手持式 X 射線熒光光譜儀了鋁及鈦合金的實驗室質(zhì)量分析的性，它對檢測銅、鎳和鋼等金屬材料中含有的輕金屬元素時的敏感性也是的，無需借助復雜的真空泵或氦氣罐等附屬設備就可對鎂、鋁、硅等輕元素進行測量。硅漂移探測器 (SDD)、45 千伏 X 射線管和經(jīng)驗系數(shù)分析方法的強大結合，意味著 X-MET5100 可以在短短 1 秒鐘內(nèi)，準確地分析和確定金屬合金成分。受限物質(zhì)（屬元素）、玩具中的鉛、土壤中的污染物和礦石中的微量物質(zhì)可以得到準確測量，其速度之快，在從前是無可能的。在幾秒鐘之內(nèi)，就可以得到 ppm 級的痕量元素檢測結果。 這款堅固的便攜式 XRF 輕元素測試工具，專為以下行業(yè)應用而設計：- 金屬材料性鑒定（PMI）- 廢舊金屬回收行業(yè)
- 環(huán)境屬監(jiān)測（土壤和RoHS）- 航空和汽車工業(yè)
- 礦石勘察、現(xiàn)場挖掘控制和礦山制圖
- 環(huán)境屬監(jiān)測（土壤和RoHS）- 航空和汽車工業(yè)
- 礦石勘察、現(xiàn)場挖掘控制和礦山制圖
