產(chǎn)品介紹

OLYMPUS LEXT OLS4500是結(jié)合了傳統(tǒng)光學顯微鏡、激光掃描顯微鏡（LSM）以及探針掃描顯微鏡（SPM）功能的一體機。LEXT OLS4500可以滿足不同樣品的觀測需求，是一臺新時代的觀察、測量裝置。

LEXT OLS4500可以輕松實現(xiàn)從毫米到納米的觀察和測量，放大倍率由幾十倍到倍。找到觀測目標（觀察對象）后，您可以在光學顯微鏡模式、激光顯微鏡模式和探針顯微鏡模式之間自由切換，而不用擔心目標丟失。并且您可以使用探針顯微鏡而正確的完成觀察，大大縮短了獲取影像的時間。這些便是OLS4500一體機的自由操作帶給您的益處。更加方便、更加順利地完成范圍觀察和測量。實現(xiàn)了自由切換操作的LEXT OLS4500。

■應用

LEXT OLS4500可用來測量表面物理形貌，進行微納米尺度的三維形貌分析，如3D 表面形貌、

2D 的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。

? 精密部件：檢測對表面磨損，表面粗糙度，表面微結(jié)構(gòu)有要求的部件；

? 生命科學

? 微電子機械系統(tǒng)：微型器件的檢測，醫(yī)藥工程中組織結(jié)構(gòu)的檢測，如基因芯片等

? 半導體：檢測微型電子系統(tǒng)，封裝及輔助產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設計

? 太陽能：太陽能電池片柵線的3D 形貌表征、高寬比測量，制絨后3D 形貌表征（單

晶金字塔大小、數(shù)量、角度，多晶腐蝕坑形貌、密度），粗糙度分析等

? 紙張：紙張、錢幣表面三維形貌測量

? LED行業(yè)

■技術(shù)參數(shù)

LSM部分

光源：白光LED，405nm半導體激光

檢出系統(tǒng)：光電管

分辨率：移動分辨率10nm，顯示分辨率1nm

物鏡轉(zhuǎn)換器：6孔電動物鏡轉(zhuǎn)換器

物鏡：100x，50x，20x等（可選）

變焦：光學變焦：1～8X，數(shù)碼變焦：1～8X

SPM部分

光源：659nm半導體激光

檢出設備：光電檢測器

掃描范圍：X/Y 方向，30μm x 30μm， Z 方向：4.6μm，

微懸臂規(guī)格：根據(jù)用途不同微懸臂有不同型號、類型

工作電源：100-240V, 50-60Hz, 

總重量：約440KG