★窄帶/寬帶檢測
★集成化傳輸/反射測試裝置
★內(nèi)置HP Instrument BASIC
★AM延遲
★裝有3 1/2英寸磁盤驅(qū)動(dòng)器(LIF/DOS)
★“實(shí)時(shí)”掃描速度(50ms/掃描)
★1Hz分辨率的合成信號(hào)源
★100dB的系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍
射頻經(jīng)濟(jì)型網(wǎng)絡(luò)分析儀HP8713B
HP8713B經(jīng)濟(jì)型網(wǎng)絡(luò)分析儀具有速度快、高和測量適應(yīng)能力強(qiáng),并且價(jià)格合理,對于大批量射頻元器件的制造是十分理想的。它能表征各種射頻元件的傳輸/反射的頻響,即測量插損、增益、回波損耗、變換損耗、功率或駐波比。HP8713B是結(jié)構(gòu)緊湊的集成網(wǎng)絡(luò)分析儀,能快速、簡便、地進(jìn)行射頻測試。
集成化合成源和傳輸/反射測試裝置使得連接就可掃頻表征射頻 元件的特性。
將信號(hào)源、接收機(jī)、測試裝置、顯示器和磁盤驅(qū)動(dòng)器組合成方便于使用的網(wǎng)絡(luò)分析儀,對于制造、進(jìn)貨、檢驗(yàn)和維護(hù)均十分理想。
HP8713B在CRT上能同時(shí)顯示多個(gè)參數(shù),如插損與回波損耗特性。內(nèi)部的逾100個(gè)儲(chǔ)存/調(diào)用寄存器可以加快器件的測試速度。儀器狀態(tài)在機(jī)上就能存取,節(jié)省了時(shí)間,減少了操作失誤。率的標(biāo)記功能加快了元件的測試速度。儀器以實(shí)時(shí)方式計(jì)算和顯示被測器件的特性(、小、3dB帶寬和光標(biāo)搜索),并給出測量數(shù)據(jù)。
限測試是將測量數(shù)據(jù)和用戶定義的參數(shù)范圍進(jìn)行比較,并在儀器的顯示器上顯示結(jié)果。此特點(diǎn)了器件在生產(chǎn)狀態(tài)下進(jìn)行調(diào)試相同的技術(shù)指標(biāo)。
HP IBASIC和內(nèi)置磁盤驅(qū)動(dòng)器簡化了測量自動(dòng)化,并降低系統(tǒng)成本。IBASIC的按鍵式的記錄功能使手動(dòng)測量自動(dòng)化,而無需任何編程。利用與IBM兼容的PC和分析儀的DOS磁盤格式來控制你的測量系統(tǒng),并將數(shù)據(jù)直接送至通用MS-DOS程序。采用串行、并行和HP-IB接口支持外部設(shè)備(打印機(jī)和繪圖儀)。
HP8713B提供了經(jīng)濟(jì)的幅度測量,它在降低生產(chǎn)成本和競爭力方面是具有優(yōu)良性價(jià)比的射頻元件測試系統(tǒng)。HP8713B的頻率范圍為300kHz~3000MHz。可選用的AM延遲能測量頻率變換器件的延遲。兩個(gè)的顯示通道以多種有用的格式對兩種參數(shù)(如反射和傳輸)進(jìn)行測量和顯示。
AM延遲
校準(zhǔn)配件
通過在所考察的頻率范圍內(nèi)對已知器件(標(biāo)準(zhǔn)件)進(jìn)行測量。可以以消除系統(tǒng)誤差。 HP 8713B的配件包含表征這些誤差的一些標(biāo)準(zhǔn)件。
HP85032E
50ΩN型經(jīng)濟(jì)型校準(zhǔn)配件 HP 85032E包含用來校準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)分析儀的50ΩN型標(biāo)準(zhǔn)件,用于對具有50ΩN型接頭的器件進(jìn)行測量。標(biāo)準(zhǔn)件包括固定終端負(fù)載、開路器和短路器。
HP85033D 3.5mm校準(zhǔn)配件
HP85033D包含用來校準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)分析儀的50Ω3.5mm標(biāo)準(zhǔn)件,用來對具有50Ω3.5mm接頭的器件進(jìn)行測量。標(biāo)準(zhǔn)件包括固定終端負(fù)載、開路器和短路器。
HP85036E
75ΩN型經(jīng)濟(jì)型校準(zhǔn)配件 HP 85036E包含用來校準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)分析儀的75ΩN型標(biāo)準(zhǔn)件,用來對具有75ΩN型接頭的器件進(jìn)行測量。 標(biāo)準(zhǔn)件包括固定終端負(fù)載、開路器和短路器。
HP85039A
75ΩF型校準(zhǔn)配件 HP 85039A包括用來校準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)分析儀的75ΩF型標(biāo)準(zhǔn)件,用于對具有75ΩF型接頭的器件進(jìn)行測量。標(biāo)準(zhǔn)件包括固定終端負(fù)載、開路器和短路器。
技術(shù)指標(biāo)摘要








