成都涂層測(cè)厚儀,成都測(cè)厚儀,成都鍍層測(cè)厚儀,成都覆層測(cè)厚儀,四川涂層測(cè)厚儀
MINITT 720/730/740涂層測(cè)厚儀
MINITT 720/730/740涂層測(cè)厚儀
●的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)了測(cè)量的性
●測(cè)量范圍達(dá)15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用
●FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)
其他說(shuō)明
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SIDSP探頭 |
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探頭 |
F1.5,N0.7,FN1.5 |
F2 |
F5,N2.5,FN5 |
F15 |
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特性 |
F |
N |
F |
F |
N |
F |
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測(cè)量范圍 |
0-1.5mm |
0-0.7mm |
0-2mm |
0-5mm |
0-2.5mm |
0-15mm |
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使用范圍 |
小工件,薄涂層,跟測(cè)量支架一起使用 |
粗糙表面 |
標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛 |
厚涂層 |
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測(cè)量原理 |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) |
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信號(hào)處理 |
探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP) |
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度 |
&plun; (1μ m+0.75%讀值) |
&plun; (1.5μ m+0.75%讀值) |
&plun; (5μ m+0.75%讀值) |
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重復(fù)性 |
&plun; (0.5μ m+0.5%讀值) |
&plun; (0.8μ m+0.5%讀值) |
&plun; (2.5μ m+0.5%讀值) |
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低端分辨率 |
0.05μ m |
0.1μ m |
1μ m |
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小曲率半徑(凸) |
1.0mm |
1.5mm |
5mm |
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小曲率半徑(凹,外置探頭) |
7.5mm |
10mm |
25mm |
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小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭) |
30mm |
30mm |
30mm |
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小測(cè)量面積 |
Φ 5mm |
Φ 10mm |
Φ 25mm |
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小基體厚度 |
0.3mm |
40μ m |
0.5mm |
0.5mm |
40μ m |
1mm |
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連續(xù)模式下測(cè)量速度 |
每秒20個(gè)讀數(shù) |
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單值模式下測(cè)量速度 |
每分鐘70個(gè)讀數(shù) |
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主機(jī) |
MINITT 720 |
MINITT 730 |
MINITT 740 |
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探頭類型 |
內(nèi)置 |
外置 |
內(nèi)置外置可換 |
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數(shù)據(jù)記憶組數(shù) |
10 |
10 |
100 |
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存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 |
多10, 000個(gè) |
多10, 000個(gè) |
多100, 000個(gè) |
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統(tǒng)計(jì)值 |
讀值個(gè)數(shù),小值,值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置) |
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校準(zhǔn)程序合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 |
ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) |
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校準(zhǔn)模式 |
出廠設(shè)置校準(zhǔn),點(diǎn)校準(zhǔn),2點(diǎn)校準(zhǔn),3點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 |
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限值監(jiān)控 |
聲,光報(bào)警提示過(guò)限 |
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測(cè)量單位 |
um,mm,cm;mils,inch,thou |
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操作溫度 |
-10℃-60℃ |
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存放溫度 |
-20℃-70℃ |
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數(shù)據(jù)接口 |
IrDA 1.0(紅外接口) |
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電源 |
2節(jié)AA電池 |
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標(biāo)準(zhǔn) |
DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2 |
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體積 |
157mm x 75.5mm x 49mm |
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重量 |
約175g |
約210g |
約175g(內(nèi)置)/230g(外置) |








