LCR測(cè)試儀Agilent 4287A帶測(cè)試座HP4287A趙敏


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安捷倫 4287A射頻LCR測(cè)試儀在1 MHz～3 GHz頻率范圍可以提供、和快


速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測(cè)量技術(shù)


不同，采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻范圍進(jìn)行測(cè)量。


生產(chǎn)率高、質(zhì)量
安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量速度快


。此外，在小測(cè)試電流(100mA)處優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著生產(chǎn)率，因


為所需的取平均過(guò)程短。


系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單


測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件接點(diǎn)


附近，而不會(huì)使誤差有任何。內(nèi)置比較器功能、GPIB接口和處理器接口


可用來(lái)簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉(cāng)室


適用于多頻或陣列芯片測(cè)試。


便于使用


8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測(cè)量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過(guò)程


更為方便且無(wú)差錯(cuò)。內(nèi)置統(tǒng)計(jì)分析功能可以提供測(cè)試質(zhì)量和效率的過(guò)程?？?br />

選用的LAN接口有助于統(tǒng)一進(jìn)行生產(chǎn)監(jiān)控。此外，若干APC-7，SMD測(cè)試夾具可以


與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用，從而無(wú)需制作夾具。
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