測(cè)試儀各部分之功能

1.“POWER”燈亮?xí)r表示電源已接上
2.“READY”燈亮?xí)r表示輸入資料已存在
3.“P”燈亮?xí)r表示測(cè)試器件合格
4.“OVER CURRENT”燈在閃亮?xí)r表示測(cè)試器件已短路
5.“5V ONLY”燈在閃亮?xí)r表示選擇電壓錯(cuò)誤，請(qǐng)立即旋轉(zhuǎn)到5V檔
6.“FALL”燈亮?xí)r表示器件不合格
7.四個(gè)七劃發(fā)光二管是顯示輸入IC的編號(hào)
8.三個(gè)功能按鍵（輸入、測(cè)試、清除）
A.輸入（ENTER）-將顯示屏的IC編號(hào)資料輸入到資料庫
B.測(cè)試（TT）-a.開始測(cè)試在測(cè)試座的IC是否合格
　　　　　　　?。?自動(dòng)尋找不的ＩＣ編號(hào)
Ｃ.清除（ＣＬＥＡＲ）－輸入及顯示的資料清除
９.四種電壓測(cè)試旋鈕
?。?３Ｖ，５Ｖ，１２Ｖ，１５Ｖ（５Ｖ為ＴＴＬ之用）
　Ｂ.３Ｖ和５Ｖ，５Ｖ和１２Ｖ，１２Ｖ和１５Ｖ之間的位置是表示測(cè)試電源中斷（測(cè)試準(zhǔn)備狀態(tài)）

操作方法

一.準(zhǔn)備
１.開啟電源，等候“ＰＯＷＥＲ”燈亮
２.將被測(cè)芯片缺口向上相應(yīng)測(cè)試插座并夾緊
＃注意：１.ＤＲＡＭ芯片缺口應(yīng)向下
　　　?。?芯片下沿應(yīng)與測(cè)試插座下沿對(duì)齊

二.測(cè)試５４／７４、４０００、４５００、１４０００、４００００等系列
（１）直接輸入測(cè)試法
?。?ＩＣ種類：一般的５４／７４系列
　電壓選擇：５Ｖ
?。Ｗ⒁猓涸跍y(cè)試ＮＳ?。担矗罚矗茫希停訒r(shí)，電壓須要在５Ｖ之內(nèi)；如電壓選擇在５Ｖ以上測(cè)試，ＩＣ可能會(huì)遭到破壞；
　　　　　雖然ＮＳ?。担矗罚础。茫希停雍停茫模矗埃埃凹埃矗埃埃埃埃茫希停印∠盗械妮斎刖幪?hào)是相同，但兩類的特性有異，不可混為一體。
?。?ＩＣ種類：ＲＣＡ?。茫模矗埃埃昂停停希裕希遥希蹋痢。保矗埃埃跋盗?BR>　　　　　　　　ＲＣＡ?。茫模矗担埃啊『停停希裕希裕希蹋痢。保矗担埃跋盗小。矗埃埃埃跋盗?BR>　　電壓選擇：３.５Ｖ-１５Ｖ

（２）自動(dòng)鑒定法
　 ＩＣ種類：一般的５４／７４系列　　　　　　　　　
　　　　　?。遥茫痢。茫模矗埃埃昂停停希裕希遥希蹋痢。保矗埃埃跋盗?BR>　　　　　　ＲＣＡ?。茫模矗担埃啊『停停希裕希裕希蹋痢。保矗担埃跋盗?BR>　　　電壓選擇：５Ｖ

三.測(cè)試ＲＯＭ　、ＳＲＡＭ、ＤＲＡＭ

（１）自尋方法
　?。?打入入口數(shù)碼　ＳＲＡＭ：２９９９?。模遥粒停海常梗梗?BR>　　２.按“ＥＮＴＥＲ”鍵，進(jìn)入自尋狀態(tài)。
　?。?如查到此器件，則顯示器顯示此器件的型號(hào)并且“ＰＡＳＳ”燈亮，這時(shí)再按“ＴＥＳＴ　ＳＴＡＲＴ”鍵，則繼續(xù)尋找，此器件的其它型號(hào)（功能相同的其它型號(hào)）直到閃動(dòng)顯示“００００”為此，表示查詢完成。
　　４.如查尋不到，則顯示連續(xù)變化數(shù)碼直到閃動(dòng)“００００”為止。
（２）已知器件型號(hào)測(cè)試量法
　?。?打入器件型號(hào)
　　　注意：機(jī)器查對(duì)型號(hào)時(shí)，先查ＴＴＬ，５４／７４系列，然后是ＣＯＭＳ４０００系列，４５００系列，ＲＯＭ，ＳＲＡＭ，ＤＲＡＭ，因?yàn)橛行┢骷男吞?hào)本身具有多種含義，如ＳＲＡＭ４４６（也就是６１１６），它與ＴＴＬ中７４ＬＳ４４６相同，則測(cè)量時(shí)，機(jī)器會(huì)認(rèn)為器件是７４ＬＳ４４６而測(cè)量失敗，如打入６１１６則測(cè)量會(huì)成功。
　?。?按“ＥＮＴＥＲ”鍵，如閃動(dòng)，則表示無此資料庫，否則可進(jìn)行測(cè)量。
　　３.按“ＴＥＳＴ?。樱裕粒遥浴眴未螠y(cè)量或按“１”斷電循環(huán)測(cè)量或按“２”不斷電循環(huán)測(cè)量或按“３”不斷電循環(huán)測(cè)量。
　　“１”和“２”與“３”的差別在于，“３”不管測(cè)量是否成功，都連續(xù)進(jìn)行測(cè)量，而“１”和“２”則遇到不成功的測(cè)量將停止進(jìn)一步的測(cè)量。
　?。?這時(shí)顯示器將為全暗等待輸入測(cè)量速度（方式），速度為１-９９，１為慢，性，９９為快，性。
　　從鍵盤上鍵入１-９９之間的任意一個(gè)值（過９９，則取后兩位，后兩位０或００機(jī)器將要求重新輸入速度值），然后再按“ＥＮＴＥＲ”鍵，測(cè)量?jī)x將竟如工作狀態(tài)。
　　５.重復(fù)第三步則可進(jìn)行另測(cè)量，而不要進(jìn)行第４步。
　?。Ｗ⒁猓海?測(cè)量ＤＲＡＭ時(shí)，應(yīng)使被測(cè)芯片缺口向下
　　　　　?。?在測(cè)試ＳＴＡＴＩＣ?。遥粒偷臅r(shí)候，電壓要保持在５Ｖ內(nèi)；如果輸入ＴＥＳＴ鍵后，再轉(zhuǎn)動(dòng)電壓選擇旋鈕，這樣會(huì)影響測(cè)試后的結(jié)果，測(cè)試儀顯示的結(jié)果是ＲＥＡＤＹ及ＦＡＩＬ燈亮。

測(cè)試范圍

TTL 74/75 系列：
04 05 06 07 08 09 10 11 12 13 14 16 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 30 32 33 37 38 39 40 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 58 60 61 62 63 64 65 68 69 73 74 75 76 78 83 850.

CMOS4000系列：
4194

CMOS　4500系列：
4