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在當今工業(yè)生產(chǎn)中對納米級表面結(jié)構(gòu)的了解日益重要。這些應(yīng)用包含了從內(nèi)燃機磨損到新型潤滑涂層和腐蝕保護層，以及現(xiàn)代車用噴漆，從半導體工業(yè)到技術(shù)。傳統(tǒng)方法已經(jīng)無法處理上述的長度空間。但同時可以看到，對表面、涂層和功能材料表面盡可能地就性能進行描述日益成為工業(yè)界和科研機構(gòu)的迫切需求，例如在局部小的尺寸內(nèi)對化學反應(yīng)過程，腐蝕和磨損進行觀察等等。原子力顯微鏡作為其靈活的圖像檢測方法尤其適合這些應(yīng)用，它的測量范圍覆蓋了從0.2毫米到微米納米直至原子晶體結(jié)構(gòu)。而這樣大的測量范圍使用同一臺設(shè)備。隨著BMT多用掃描儀AFM 3000的研制成功，市場上終于出現(xiàn)了一臺掃描原子力顯微鏡，它的突出特點是模塊化結(jié)構(gòu)、高度靈而且操作其簡便。它的測量模塊運用了化學對比度成像（Chemical Contrast Imaging (CCI-AFM) ，這種新技術(shù)可以檢測到表面其微量的化學變化，這樣就可以跟蹤腐蝕、磨損、氧化等等物理和化學反應(yīng)實際發(fā)生的位置，這些反應(yīng)通常正是在微米和納米尺度上。用多用成像軟件包可以在多個采集點上同時采集圖像信息：從采樣點表面形貌到摩擦，磨損和接觸剛性，一直到化學對比度。
主要特點：
◆ 操作其簡便，用戶控制，模塊化構(gòu)造 ◆ 多用掃描 測量頭, 就高的穩(wěn)定性作了優(yōu)化 ◆ 多測量模式選擇: 接觸模式，非接觸模式，震蕩接觸模式，力調(diào)制顯微鏡，摩擦顯微鏡和粘合顯微鏡，力譜儀，相位對比度。 ◆ 使用同一個測量頭可的掃描范圍從納米級到面積為 200 µm x 200µm ◆ 包括化學對比度成像 (CCI-AFM) 模式 ◆ 包括保護氣體選項 ◆ 可直接在樣品實地的溫度和濕度條件下測量 ◆ 包括可在液體中測量的工作方式 ◆ 有用途的附加模塊包括：納米電鍍(GalvanoScan)、納米摩擦和磨損檢測 (TriboScan) 以及腐蝕 (CorroScan) 和納米構(gòu)造 (LithoScan) ◆ 可按用戶需要提供相匹配的軟件模塊 根據(jù)特 ◆ 殊要求可提供應(yīng)用實例 技術(shù)數(shù)據(jù)：
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