BINNA自動單芯干涉儀是維度科技研發(fā)的全自動、非接觸式的光纖端面干涉儀；該光纖端面干涉儀采用紅光干涉測量原理，使用光學(xué)方法不但可對單芯光纖連接器的光纖端面的幾何參數(shù)如曲率半徑、頂點偏移、光纖高度等參數(shù)進(jìn)行測試，也可對光線切割角度以及裸插芯的端面幾何參數(shù)進(jìn)行測試。BINNA已通過Telcordia能夠測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、。BINNA具備自動對焦、自動居中等自動化功能，能夠減少人員操作步驟，測試的速度和性，從而光纖連接器制程中的質(zhì)量以及速度。自動生成數(shù)據(jù)報表以及能對生產(chǎn)制成進(jìn)行管理，并提供可追溯性。具備各項自動功能的BINNA是一款適用于生產(chǎn)環(huán)境中使用的測試設(shè)備。
產(chǎn)品特點
1. 自動對焦
2. 自動居中光纖
3. 自動測量模式
4. 測量單芯需要1.5S（對焦）
5. 裸插芯測量模式和裸光纖測量模式
6. APC測試切換簡單
7. 配備多種長壽命夾具
8. 自動生成通用EXCEL格式和數(shù)據(jù)
9. 通過Telcordia。
設(shè)備參數(shù)
測量參數(shù) | 測試范圍 | 重復(fù)性 | 再現(xiàn)性 |
曲率半徑*(mm) | 1 to flat | 0.1% | 0.2% |
光纖高度*(nm) | -160~+160 | +/-1 | +/-2 |
| 頂點偏移*(um) | 0~200 | +/-0.5 | +/-1.5 |
APC角度*(°) | 0(PC)或8(APC) | 0.01 | 0.02 |
測量速度(秒) | 1.5s | ||
自動聚焦速度(秒) | 2s | ||
視場 | 紅光LED | ||
重量 | 5.5kg(主機(jī)) | ||
體積 | L25.6*W16.2*H9.2(cm) | ||
*為sigma數(shù)值
