北京飛凱曼科技公司提供2維平面成像應(yīng)力測(cè)試儀，能夠快速、精準(zhǔn)測(cè)量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應(yīng)用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領(lǐng)域。
我們針對(duì)相位差差別比較小的樣品，要求測(cè)量速度高的應(yīng)用，專門開發(fā)了PA系列小相位差型應(yīng)力測(cè)試儀，其關(guān)鍵是測(cè)量速度快。
技術(shù)參數(shù)：
型號(hào) | PA-110 | PA-110-L | PA-micro |
特點(diǎn) | 快速型 | 大面積型 | 顯微型 |
典型應(yīng)用 | 玻璃、藍(lán)寶石、SiC、GaN等晶體 | ||
傳感器 | 標(biāo)準(zhǔn)偏振成像傳感器 | ||
成像像素 | 約97萬(wàn)像素 | ||
測(cè)量范圍 | 0-130nm | ||
重復(fù)性 | <1.0nm | ||
測(cè)量波長(zhǎng) | 520nm | ||
尺寸 | 310x395x | 450x538x | 240×400× |
觀測(cè)到的面積 | 11×14 至100× | 14×18至230× | 100×130至1000×1300μm |
重量 | |||
應(yīng)用領(lǐng)域：
玻璃，顯示組件，注塑塑料件，拉伸纖維，光纖器件，微影手提袋，鏡片毛坯，鏡片，硅片，礦產(chǎn)，激光晶體，液態(tài)晶體，雙折射晶體等
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