TD系列X射線衍射儀是國內(nèi)將可編程序控制器技術(shù)及模塊化設(shè)計理念融入到產(chǎn)品設(shè)計中，它的三重?zé)o干擾隔離保護方案，使機器性能更加，故障率低，并延長整機使用壽命。它的設(shè)計精密，硬件、軟年功能，能靈活地適應(yīng)物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)各種測試、分析和研究工作。TD系列X射線衍射儀以其的控制功能、完善的數(shù)據(jù)處理軟件以及高的測試結(jié)果，在國內(nèi)同類儀器中居于水平。

        TD-3500型X射線衍射儀                                           TD-3600型X射線衍射儀

技術(shù)參數(shù)

功能特點

■高穩(wěn)定度X射線發(fā)生器

    TD-3000/3500型X射線衍射儀采用PLC（可編程序控制器）控制線路代替單片機控制線路，使儀器故障率降低，性能更加穩(wěn)定，大大X射線發(fā)生器的使用功率，滿足部分用戶需大功率測試樣品的需要。高壓控制單元與管理系統(tǒng)實現(xiàn)了真正的電氣隔離，隔離電壓＞2500V，由PLC模塊對高壓控制單元進行管理及實時監(jiān)控，并由真彩色觸摸屏實時顯示監(jiān)控信息，及I/O接口模塊均采用光電隔離措施，使高壓發(fā)生器外電路與控制之間真正實現(xiàn)了電氣隔離，各模塊均采用屏蔽措施，以輻射干擾。

    TD-3600型X射線衍射儀采用美國SPELLMAN高頻高壓X射線發(fā)生器，其主要特點為：

    ◆重量輕，設(shè)計緊湊，機殼高13.3cm；

    ◆功率大于85%；

    ◆通過的反饋控制電路獲得高穩(wěn)定性；

    ◆固體封裝免維護操作；

    ◆系統(tǒng)失誤診斷；

    ◆高電壓和發(fā)射電流自動緩慢上升到預(yù)設(shè)值；

    ◆X射線源穩(wěn)定，長期穩(wěn)定性：0.01%/8小時。

 ■高多功能測角儀

        測角儀采用高軸承傳動，運動控制由一套高全閉環(huán)矢量驅(qū)動伺服系統(tǒng)來完成，智能驅(qū)動包含32位RISC微處理器、高分辨率磁性編碼器，能將小的運動位置誤差自動修正，可測量結(jié)果的高、高準(zhǔn)確度，角度重現(xiàn)性可0.0001度，小步進角可0.0001度。

    ◆θ-2θ測角儀指X射線源固定不動，樣品和探測器轉(zhuǎn)動的測角形式；

    ◆θs-θd測角儀指樣品固定不動，X射線源（source）和探測器（detector）以1:1比率轉(zhuǎn)動的測角形式。除滿足常規(guī)樣品測量外，還可以滿足部分用戶測量樣品的要求，如：液體樣品、溶膠態(tài)樣品、粘稠型樣品、松散粉末樣品、大塊固體樣品等。使用維護方便，樣品水平放置，有利于操作人員插放樣品，方便清理灑落樣品，不會因操作失誤導(dǎo)致污染樣品臺，影響測角儀。

    TD-3600型X射線衍射儀采用德國的軸編碼盤技術(shù)，讀出測角儀角度。每次上電不需聯(lián)機，自動讀出測角儀當(dāng)前角度。

 ■網(wǎng)絡(luò)、自動通信和自動運行功能

    ◆可以通過LAN（局域網(wǎng)）傳輸分析結(jié)果；

    ◆利用通信通知功能，可以向指定地址通知測試完成，傳輸測試結(jié)果，顯示錯誤報警；

    ◆自動運行系統(tǒng)，可以根據(jù)定時器自動完成測試后的停機工作，完成無人管理運行。

 ■的記錄控制系統(tǒng)

    采用大規(guī)模高、自動化程度高的西門子 PLC（可編程序控制器）控制線路代替原儀器的單片機控制線路，使該儀器記錄控制系統(tǒng)計數(shù)更加穩(wěn)定，控制更加簡單，結(jié)構(gòu)更加緊湊。使該系統(tǒng)可長時間無故障地穩(wěn)定運行。PLC技術(shù)的引入，讓儀器設(shè)計模塊化結(jié)構(gòu)清晰，由PLC對整個儀器進行集中控制和管理，通過與計算機系統(tǒng)的通訊，可方便完成儀器的控制及衍射數(shù)據(jù)的收集、存儲及后期的數(shù)據(jù)分析工作。

    ◆線路控制簡單，由一套西門子PLC系統(tǒng)與兩塊集成度高的線路板組成，便于調(diào)試安裝。

    ◆采用真彩觸摸屏實現(xiàn)人機交互，保護功能，實時顯示儀器運行狀態(tài)，用戶可以通過觸摸屏控制儀器的高壓啟動、停止，也可以通過機軟件實現(xiàn)對儀器的自動控制，整個工作輕松簡單。

    ◆觸屏可以顯示儀器的工作狀態(tài)及報警信息，信息同時傳遞給連著的計算機系統(tǒng)，由計算機系統(tǒng)的控制軟件對狀態(tài)及報警信息進行管理，方便了解儀器運行狀況及故障信息。

    TD-3600型X射線衍射儀記錄控制單元的特點：運用的半導(dǎo)體探測器及的PHA通道設(shè)計，可以省卻用石墨彎晶單色器帶來的諸多煩惱，更可以獲得高分辨率和低背景的衍射圖譜，可以大大增加衍射譜的強度。

應(yīng)用軟件

    數(shù)據(jù)分析處理功能：平滑；扣除背底；Kα：剝離；尋峰（標(biāo)d、2θ、強度、半高寬，顯示參數(shù)等多種衍射峰表示方法）；改變采樣步長、去除雜峰、干擾峰；d值、峰位修正；求積分面積、積分寬度、半高寬；譜圖加減、譜圖合并；在譜圖任意位置文字；兩種游標(biāo)方式（小游標(biāo)、大游標(biāo)）；多種縮放功能；多種坐標(biāo)方式（線性坐標(biāo)、對數(shù)坐標(biāo)、平方根坐標(biāo)）；圖片放入剪切板；直接在Word或Excel中粘貼；分峰程序、結(jié)晶度計算、晶胞參數(shù)精修、指標(biāo)化、晶粒大小分析、殘余應(yīng)力分析、殘余奧氏體含量測定、黏土定量分析，已知晶體理論結(jié)構(gòu)，模擬出XRD衍射譜圖等。

■結(jié)晶度計算 

    多重峰分離及結(jié)晶度計算，利用高斯及洛淪茲函數(shù)模型，對重疊峰進行擬合分析，確定每個衍射峰角度、強度、半高寬及面積，同時計算出結(jié)晶度、晶粒大小及二類應(yīng)力等。

■定性分析

     數(shù)據(jù)處理軟件具有全譜圖和衍射峰位檢索匹配功能。全譜圖進行檢索不需要標(biāo)明衍射峰角度，利用設(shè)計的模式對掃描的全譜圖進行處理，將檢索對象的主要相、少量相、微量相定性分析；衍射角度檢索是根據(jù)衍射峰位和強度信息進行檢索，一般用于對衍射角度誤差較大的數(shù)據(jù)進行定性分析。

■譜圖對比功能

    可打開多十個譜圖，可進行三維對比，譜圖平鋪對比等多種功能比較，用以顯示同一樣品在不同溫度下的變化。

    數(shù)據(jù)處理軟件與Windows相連接，對將要輸出的譜圖進行標(biāo)注、粘貼、放大、縮小等功能，也可以將圖片放入剪貼板，直接在Word或Excel中粘貼。

■定量分析軟件

    采用無標(biāo)樣定量分析，采用全譜擬合方法，計算出主要相、少量相、微量相的百分含量。

衍射儀附件(薄膜測試)

■TXT-9小角衍射附件（選件）

    配置相應(yīng)附件可進行小角衍射，角度范圍0～5°，可對納米多層薄膜的厚度測試。

■TBM-8平行光薄膜測量附件（選件）

    利用X射線衍射法研究通過蒸發(fā)沉積在玻璃、硅單晶，金屬聚合物或類似物基底上的薄膜，將薄膜附件安裝在廣角測角儀上（國產(chǎn)或）將θ軸固定在較低的角度上，低角度入射，2θ自動掃描，使用平晶單色器除掉來自基體的X射線，可以探測薄膜衍射線，一般測量d值較大的樣品。

衍射儀附件(織構(gòu)和應(yīng)力測試)

■TZG-5多功能集成測量附件

    設(shè)計安裝在廣角測角儀上，配置有高分辨率平行光光學(xué)系統(tǒng)，可以解決測量角度誤差、衍射峰不對稱、分辨率低等問題，克服了聚集光學(xué)系統(tǒng)的特點。用于對板狀材料、塊狀材料及基板上的膜的分析，進行晶相檢出、取向度檢測、應(yīng)力測試分析等，可以進行織構(gòu)、應(yīng)力、薄膜結(jié)構(gòu)等測試。

特點：

    ◆具有圖測試裝置（有反射法、法、γ振動）、應(yīng)力測試附件（并傾法、側(cè)傾法）、  薄膜附件（樣品表面旋轉(zhuǎn)）；

    ◆可測大而厚的樣品（Ф40mm，厚10mm ）；

    ◆由于設(shè)計輕巧，在廣角測角儀上拆裝時簡便、輕松；

    ◆TD系統(tǒng)自動控制各個方向動作。

功能：

    ◆圖測試（法、反射法）；

    ◆應(yīng)力測試（并傾法、側(cè)傾法）；

    ◆薄膜測試（樣品向內(nèi)旋轉(zhuǎn)）；

    ◆定量測試（樣品面內(nèi)旋轉(zhuǎn)）。

技術(shù)規(guī)格：

    ◆α軸（傾斜）：動作范圍-45°～90°小步距0.001°/步；

    ◆β軸（面內(nèi)旋轉(zhuǎn)）：動作范圍0°～360°小轉(zhuǎn)動步距0.005°/步；

    ◆z軸（前后）：動作范圍10mm 小移動步距0.001mm/步；

    ◆γ軸：動作范圍±10mm  水平45°方向擺動。

應(yīng)用領(lǐng)域：

    ◆輥軋板等金屬組織的評價；

    ◆陶瓷取向的評價；

    ◆薄膜樣品晶體優(yōu)先方位的評價；

    ◆各種金屬材料、陶瓷材料的殘余應(yīng)力測試（耗性、耐切削性等的評價）；

    ◆多層膜的殘余應(yīng)力測試（膜的剝落等的評價）；

    ◆高溫導(dǎo)材料薄膜、金屬板等表面氧化、氮化膜的分析；

    ◆玻璃、Si、金屬基板上的多層膜的分析（磁性薄膜、金屬表面硬化皮膜等）；　　

    ◆大分子材料、紙、鏡片等電鍍材料的分析。

衍射儀附件(高低溫)

■TSM-2 石墨單色器（備）

        TSM石墨單色器是安裝在X射線探測器前，將通過接收狹縫后的X射線單色化，只檢測X光譜的Kα特征X射線的部件。使用該裝置，可以消除連續(xù)X射線、Kβ特征X射線和熒光X射線，可以進行高信噪比的X射線衍射分析?？煞灞潮?，降低本底，弱峰的分辨率，反射效率≥35%，并可降低衍射儀的掃描角度。

 ■TGW-1高低溫附件（選件）

    為了解高溫加熱過程中樣品晶體結(jié)構(gòu)變化或各種物質(zhì)高溫加熱過程中相互溶解的變化等，安裝在廣角測角儀上的裝置。

技術(shù)參數(shù)

    ◆溫度設(shè)置：惰性氣體環(huán)境室溫到1200℃

    ◆真空環(huán)境：-192℃到1600℃

    ◆溫度控制：±0.5℃

    ◆控溫方式：Pid設(shè)定、溫度定值控制（升溫、降溫、保持、停止）

    ◆窗口材料：耐400℃、0.04㎜聚酯膜

    ◆制冷方式：液氮（消耗量小于4L/h）

    ◆冷卻方式：去離子水循環(huán)冷卻

■TXZ-10 換樣器（選件）

    自動換樣器是為用戶需要樣品批量測量而設(shè)計的裝置，可以對裝載6個樣品自動進行連續(xù)測量。采用步進電機驅(qū)動，由可編程序控制器（PLC）控制，無需人工換樣，系統(tǒng)自動連續(xù)測樣，自動保存數(shù)據(jù)。