TD系列X射線衍射儀是國(guó)內(nèi)將可編程序控制器技術(shù)及模塊化設(shè)計(jì)理念融入到產(chǎn)品設(shè)計(jì)中，它的三重?zé)o干擾隔離保護(hù)方案，使機(jī)器性能更加，故障率低，并延長(zhǎng)整機(jī)使用壽命。它的設(shè)計(jì)精密，硬件、軟年功能，能靈活地適應(yīng)物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)各種測(cè)試、分析和研究工作。TD系列X射線衍射儀以其的控制功能、完善的數(shù)據(jù)處理軟件以及高的測(cè)試結(jié)果，在國(guó)內(nèi)同類儀器中居于水平。

        TD-3500型X射線衍射儀                                           TD-3600型X射線衍射儀

技術(shù)參數(shù)

功能特點(diǎn)

■高穩(wěn)定度X射線發(fā)生器

    TD-3000/3500型X射線衍射儀采用PLC（可編程序控制器）控制線路代替單片機(jī)控制線路，使儀器故障率降低，性能更加穩(wěn)定，大大X射線發(fā)生器的使用功率，滿足部分用戶需大功率測(cè)試樣品的需要。高壓控制單元與管理系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了真正的電氣隔離，隔離電壓＞2500V，由PLC模塊對(duì)高壓控制單元進(jìn)行管理及實(shí)時(shí)監(jiān)控，并由真彩色觸摸屏實(shí)時(shí)顯示監(jiān)控信息，及I/O接口模塊均采用光電隔離措施，使高壓發(fā)生器外電路與控制之間真正實(shí)現(xiàn)了電氣隔離，各模塊均采用屏蔽措施，以輻射干擾。

    TD-3600型X射線衍射儀采用美國(guó)SPELLMAN高頻高壓X射線發(fā)生器，其主要特點(diǎn)為：

    ◆重量輕，設(shè)計(jì)緊湊，機(jī)殼高13.3cm；

    ◆功率大于85%；

    ◆通過(guò)的反饋控制電路獲得高穩(wěn)定性；

    ◆固體封裝免維護(hù)操作；

    ◆系統(tǒng)失誤診斷；

    ◆高電壓和發(fā)射電流自動(dòng)緩慢上升到預(yù)設(shè)值；

    ◆X射線源穩(wěn)定，長(zhǎng)期穩(wěn)定性：0.01%/8小時(shí)。

 ■高多功能測(cè)角儀

        測(cè)角儀采用高軸承傳動(dòng)，運(yùn)動(dòng)控制由一套高全閉環(huán)矢量驅(qū)動(dòng)伺服系統(tǒng)來(lái)完成，智能驅(qū)動(dòng)包含32位RISC微處理器、高分辨率磁性編碼器，能將小的運(yùn)動(dòng)位置誤差自動(dòng)修正，可測(cè)量結(jié)果的高、高準(zhǔn)確度，角度重現(xiàn)性可0.0001度，小步進(jìn)角可0.0001度。

    ◆θ-2θ測(cè)角儀指X射線源固定不動(dòng)，樣品和探測(cè)器轉(zhuǎn)動(dòng)的測(cè)角形式；

    ◆θs-θd測(cè)角儀指樣品固定不動(dòng)，X射線源（source）和探測(cè)器（detector）以1:1比率轉(zhuǎn)動(dòng)的測(cè)角形式。除滿足常規(guī)樣品測(cè)量外，還可以滿足部分用戶測(cè)量樣品的要求，如：液體樣品、溶膠態(tài)樣品、粘稠型樣品、松散粉末樣品、大塊固體樣品等。使用維護(hù)方便，樣品水平放置，有利于操作人員插放樣品，方便清理灑落樣品，不會(huì)因操作失誤導(dǎo)致污染樣品臺(tái)，影響測(cè)角儀。

    TD-3600型X射線衍射儀采用德國(guó)的軸編碼盤技術(shù)，讀出測(cè)角儀角度。每次上電不需聯(lián)機(jī)，自動(dòng)讀出測(cè)角儀當(dāng)前角度。

 ■網(wǎng)絡(luò)、自動(dòng)通信和自動(dòng)運(yùn)行功能

    ◆可以通過(guò)LAN（局域網(wǎng)）傳輸分析結(jié)果；

    ◆利用通信通知功能，可以向指定地址通知測(cè)試完成，傳輸測(cè)試結(jié)果，顯示錯(cuò)誤報(bào)警；

    ◆自動(dòng)運(yùn)行系統(tǒng)，可以根據(jù)定時(shí)器自動(dòng)完成測(cè)試后的停機(jī)工作，完成無(wú)人管理運(yùn)行。

 ■的記錄控制系統(tǒng)

    采用大規(guī)模高、自動(dòng)化程度高的西門子 PLC（可編程序控制器）控制線路代替原儀器的單片機(jī)控制線路，使該儀器記錄控制系統(tǒng)計(jì)數(shù)更加穩(wěn)定，控制更加簡(jiǎn)單，結(jié)構(gòu)更加緊湊。使該系統(tǒng)可長(zhǎng)時(shí)間無(wú)故障地穩(wěn)定運(yùn)行。PLC技術(shù)的引入，讓儀器設(shè)計(jì)模塊化結(jié)構(gòu)清晰，由PLC對(duì)整個(gè)儀器進(jìn)行集中控制和管理，通過(guò)與計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的通訊，可方便完成儀器的控制及衍射數(shù)據(jù)的收集、存儲(chǔ)及后期的數(shù)據(jù)分析工作。

    ◆線路控制簡(jiǎn)單，由一套西門子PLC系統(tǒng)與兩塊集成度高的線路板組成，便于調(diào)試安裝。

    ◆采用真彩觸摸屏實(shí)現(xiàn)人機(jī)交互，保護(hù)功能，實(shí)時(shí)顯示儀器運(yùn)行狀態(tài)，用戶可以通過(guò)觸摸屏控制儀器的高壓?jiǎn)?dòng)、停止，也可以通過(guò)機(jī)軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)儀器的自動(dòng)控制，整個(gè)工作輕松簡(jiǎn)單。

    ◆觸屏可以顯示儀器的工作狀態(tài)及報(bào)警信息，信息同時(shí)傳遞給連著的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，由計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的控制軟件對(duì)狀態(tài)及報(bào)警信息進(jìn)行管理，方便了解儀器運(yùn)行狀況及故障信息。

    TD-3600型X射線衍射儀記錄控制單元的特點(diǎn)：運(yùn)用的半導(dǎo)體探測(cè)器及的PHA通道設(shè)計(jì)，可以省卻用石墨彎晶單色器帶來(lái)的諸多煩惱，更可以獲得高分辨率和低背景的衍射圖譜，可以大大增加衍射譜的強(qiáng)度。

應(yīng)用軟件

    數(shù)據(jù)分析處理功能：平滑；扣除背底；Kα：剝離；尋峰（標(biāo)d、2θ、強(qiáng)度、半高寬，顯示參數(shù)等多種衍射峰表示方法）；改變采樣步長(zhǎng)、去除雜峰、干擾峰；d值、峰位修正；求積分面積、積分寬度、半高寬；譜圖加減、譜圖合并；在譜圖任意位置文字；兩種游標(biāo)方式（小游標(biāo)、大游標(biāo)）；多種縮放功能；多種坐標(biāo)方式（線性坐標(biāo)、對(duì)數(shù)坐標(biāo)、平方根坐標(biāo)）；圖片放入剪切板；直接在Word或Excel中粘貼；分峰程序、結(jié)晶度計(jì)算、晶胞參數(shù)精修、指標(biāo)化、晶粒大小分析、殘余應(yīng)力分析、殘余奧氏體含量測(cè)定、黏土定量分析，已知晶體理論結(jié)構(gòu)，模擬出XRD衍射譜圖等。

■結(jié)晶度計(jì)算 

    多重峰分離及結(jié)晶度計(jì)算，利用高斯及洛淪茲函數(shù)模型，對(duì)重疊峰進(jìn)行擬合分析，確定每個(gè)衍射峰角度、強(qiáng)度、半高寬及面積，同時(shí)計(jì)算出結(jié)晶度、晶粒大小及二類應(yīng)力等。

■定性分析

     數(shù)據(jù)處理軟件具有全譜圖和衍射峰位檢索匹配功能。全譜圖進(jìn)行檢索不需要標(biāo)明衍射峰角度，利用設(shè)計(jì)的模式對(duì)掃描的全譜圖進(jìn)行處理，將檢索對(duì)象的主要相、少量相、微量相定性分析；衍射角度檢索是根據(jù)衍射峰位和強(qiáng)度信息進(jìn)行檢索，一般用于對(duì)衍射角度誤差較大的數(shù)據(jù)進(jìn)行定性分析。

■譜圖對(duì)比功能

    可打開(kāi)多十個(gè)譜圖，可進(jìn)行三維對(duì)比，譜圖平鋪對(duì)比等多種功能比較，用以顯示同一樣品在不同溫度下的變化。

    數(shù)據(jù)處理軟件與Windows相連接，對(duì)將要輸出的譜圖進(jìn)行標(biāo)注、粘貼、放大、縮小等功能，也可以將圖片放入剪貼板，直接在Word或Excel中粘貼。

■定量分析軟件

    采用無(wú)標(biāo)樣定量分析，采用全譜擬合方法，計(jì)算出主要相、少量相、微量相的百分含量。

衍射儀附件(薄膜測(cè)試)

■TXT-9小角衍射附件（選件）

    配置相應(yīng)附件可進(jìn)行小角衍射，角度范圍0～5°，可對(duì)納米多層薄膜的厚度測(cè)試。

■TBM-8平行光薄膜測(cè)量附件（選件）

    利用X射線衍射法研究通過(guò)蒸發(fā)沉積在玻璃、硅單晶，金屬聚合物或類似物基底上的薄膜，將薄膜附件安裝在廣角測(cè)角儀上（國(guó)產(chǎn)或）將θ軸固定在較低的角度上，低角度入射，2θ自動(dòng)掃描，使用平晶單色器除掉來(lái)自基體的X射線，可以探測(cè)薄膜衍射線，一般測(cè)量d值較大的樣品。

衍射儀附件(織構(gòu)和應(yīng)力測(cè)試)

■TZG-5多功能集成測(cè)量附件

    設(shè)計(jì)安裝在廣角測(cè)角儀上，配置有高分辨率平行光光學(xué)系統(tǒng)，可以解決測(cè)量角度誤差、衍射峰不對(duì)稱、分辨率低等問(wèn)題，克服了聚集光學(xué)系統(tǒng)的特點(diǎn)。用于對(duì)板狀材料、塊狀材料及基板上的膜的分析，進(jìn)行晶相檢出、取向度檢測(cè)、應(yīng)力測(cè)試分析等，可以進(jìn)行織構(gòu)、應(yīng)力、薄膜結(jié)構(gòu)等測(cè)試。

特點(diǎn)：

    ◆具有圖測(cè)試裝置（有反射法、法、γ振動(dòng)）、應(yīng)力測(cè)試附件（并傾法、側(cè)傾法）、  薄膜附件（樣品表面旋轉(zhuǎn)）；

    ◆可測(cè)大而厚的樣品（Ф40mm，厚10mm ）；

    ◆由于設(shè)計(jì)輕巧，在廣角測(cè)角儀上拆裝時(shí)簡(jiǎn)便、輕松；

    ◆TD系統(tǒng)自動(dòng)控制各個(gè)方向動(dòng)作。

功能：

    ◆圖測(cè)試（法、反射法）；

    ◆應(yīng)力測(cè)試（并傾法、側(cè)傾法）；

    ◆薄膜測(cè)試（樣品向內(nèi)旋轉(zhuǎn)）；

    ◆定量測(cè)試（樣品面內(nèi)旋轉(zhuǎn)）。

技術(shù)規(guī)格：

    ◆α軸（傾斜）：動(dòng)作范圍-45°～90°小步距0.001°/步；

    ◆β軸（面內(nèi)旋轉(zhuǎn)）：動(dòng)作范圍0°～360°小轉(zhuǎn)動(dòng)步距0.005°/步；

    ◆z軸（前后）：動(dòng)作范圍10mm 小移動(dòng)步距0.001mm/步；

    ◆γ軸：動(dòng)作范圍±10mm  水平45°方向擺動(dòng)。

應(yīng)用領(lǐng)域：

    ◆輥軋板等金屬組織的評(píng)價(jià)；

    ◆陶瓷取向的評(píng)價(jià)；

    ◆薄膜樣品晶體優(yōu)先方位的評(píng)價(jià)；

    ◆各種金屬材料、陶瓷材料的殘余應(yīng)力測(cè)試（耗性、耐切削性等的評(píng)價(jià)）；

    ◆多層膜的殘余應(yīng)力測(cè)試（膜的剝落等的評(píng)價(jià)）；

    ◆高溫導(dǎo)材料薄膜、金屬板等表面氧化、氮化膜的分析；

    ◆玻璃、Si、金屬基板上的多層膜的分析（磁性薄膜、金屬表面硬化皮膜等）；　　

    ◆大分子材料、紙、鏡片等電鍍材料的分析。

衍射儀附件(高低溫)

■TSM-2 石墨單色器（備）

        TSM石墨單色器是安裝在X射線探測(cè)器前，將通過(guò)接收狹縫后的X射線單色化，只檢測(cè)X光譜的Kα特征X射線的部件。使用該裝置，可以消除連續(xù)X射線、Kβ特征X射線和熒光X射線，可以進(jìn)行高信噪比的X射線衍射分析?？煞灞潮?，降低本底，弱峰的分辨率，反射效率≥35%，并可降低衍射儀的掃描角度。

 ■TGW-1高低溫附件（選件）

    為了解高溫加熱過(guò)程中樣品晶體結(jié)構(gòu)變化或各種物質(zhì)高溫加熱過(guò)程中相互溶解的變化等，安裝在廣角測(cè)角儀上的裝置。

技術(shù)參數(shù)

    ◆溫度設(shè)置：惰性氣體環(huán)境室溫到1200℃

    ◆真空環(huán)境：-192℃到1600℃

    ◆溫度控制：±0.5℃

    ◆控溫方式：Pid設(shè)定、溫度定值控制（升溫、降溫、保持、停止）

    ◆窗口材料：耐400℃、0.04㎜聚酯膜

    ◆制冷方式：液氮（消耗量小于4L/h）

    ◆冷卻方式：去離子水循環(huán)冷卻

■TXZ-10 換樣器（選件）

    自動(dòng)換樣器是為用戶需要樣品批量測(cè)量而設(shè)計(jì)的裝置，可以對(duì)裝載6個(gè)樣品自動(dòng)進(jìn)行連續(xù)測(cè)量。采用步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)，由可編程序控制器（PLC）控制，無(wú)需人工換樣，系統(tǒng)自動(dòng)連續(xù)測(cè)樣，自動(dòng)保存數(shù)據(jù)。