國(guó)家有色金屬及電子材料分析測(cè)試中心
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有色金屬及電子材料分析測(cè)試中心可以進(jìn)行，各種礦石、鋼鐵、有色、金屬材料、半導(dǎo)體材料、復(fù)合材料及功能材料的物相定性、定量分析、點(diǎn)陣常數(shù)（晶格常數(shù)）計(jì)算。
關(guān)鍵詞：繪制衍射圖譜，物相定性分析，物相定量分析，圖測(cè)定，宏觀應(yīng)力測(cè)試，宏觀應(yīng)力檢測(cè)，宏觀應(yīng)力分析，微觀應(yīng)力分析，微觀應(yīng)力檢測(cè)，微觀應(yīng)力測(cè)試，織構(gòu)分析，晶粒度測(cè)試，點(diǎn)陣常數(shù)測(cè)定，點(diǎn)陣常數(shù)測(cè)試，點(diǎn)陣常數(shù)檢測(cè)，晶體取向分析，殘余應(yīng)力測(cè)試，殘余應(yīng)力分析，殘余應(yīng)力檢測(cè)。
