激光測(cè)厚ZM100測(cè)透明薄膜的厚度

客戶需求：測(cè)透明薄膜的厚度

量程：1-3mm

測(cè)量方案：采用激光測(cè)厚ZM100激光測(cè)徑儀檢測(cè)：將薄膜套在標(biāo)準(zhǔn)軸上，通過測(cè)標(biāo)準(zhǔn)軸和套薄膜的標(biāo)準(zhǔn)軸的直徑，間接檢測(cè)薄膜的厚度。5um.。

檢測(cè)方法如圖所示：

應(yīng)用領(lǐng)域

激光測(cè)厚可用于物體尺寸的非接觸測(cè)量與控制，如零件高度、邊緣、直徑、線徑、寬度、間隙、內(nèi)徑、外徑等。有效降低了生產(chǎn)后的單件檢驗(yàn)成本，并能有效節(jié)省原物料的損耗，降低人員需求。

激光測(cè)厚ZM100光幕式激光測(cè)厚系統(tǒng)頻響快，高。ZM100可作為激光測(cè)厚儀進(jìn)行高的激光光幕式在線測(cè)厚，滿足客戶多種需求。

激光測(cè)厚主要特點(diǎn)

高：線性度5um；

量程范圍廣：可測(cè)500mm外徑的物體（可根據(jù)實(shí)際情況定制更大外徑型號(hào)）；

支持多個(gè)傳感器同步采集（確保工業(yè)在線高差動(dòng)測(cè)厚）；

可以對(duì)操作系統(tǒng)實(shí)施不同的參數(shù)設(shè)置，改變測(cè)量方式；

在PC上十分直觀的顯示出測(cè)量值，方便對(duì)測(cè)量過程實(shí)施監(jiān)控；

采用半導(dǎo)體激光器發(fā)射的激光（波長(zhǎng)660nm）作為探測(cè)信號(hào)，抗干擾能力強(qiáng)；

系統(tǒng)帶有額外的四條輸出信號(hào)，帶負(fù)載能力強(qiáng)；