XJTUMicro顯微數(shù)字圖形相關(guān)法應(yīng)變測量分析系統(tǒng)是在XJTUDIC三維數(shù)字散斑動態(tài)應(yīng)變測量分析系統(tǒng)基礎(chǔ)上開發(fā)出來的對于微米級和納米級試件進(jìn)行應(yīng)變測量。
顯微視覺中的顯微立體視覺能夠?qū)崿F(xiàn)立體成像功能，近年來越來越受到重視，在微操作、微裝配、微、微測量等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。顯微立體視覺系統(tǒng)不同于宏觀立體視覺系統(tǒng)的顯著特點(diǎn)就是在成像過程中加入了放大環(huán)節(jié)，因此，顯微鏡是實(shí)現(xiàn)顯微立體視覺系統(tǒng)的組成部分。掃描電子顯微鏡 (Scanning Electron Microscope，SEM) 具有放大倍率高、焦深大、分辨率高等特點(diǎn)，是這一領(lǐng)域應(yīng)用較多的一種顯微鏡，但其不足之處是操作復(fù)雜且設(shè)備昂貴。相對于掃描電子顯微鏡，體視顯微鏡 (Stereo Light Microscope，SLM)在這方面的應(yīng)用相對少些。SLM具有工作空間大、工作距離大、便于微觀對象的操作、非接觸式觀測、對微觀對象傷和實(shí)時性好等優(yōu)點(diǎn)，它的應(yīng)用日益廣泛。
