上海大栩祥國(guó)產(chǎn)原子力顯微鏡（一）
FM-Nanoview 6800AFM
簡(jiǎn)介：原子力顯微鏡應(yīng)用：其應(yīng)用范圍十分廣泛，利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測(cè)定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢(shì)梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細(xì)胞的表面結(jié)構(gòu)等。
可測(cè)樣品有：薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復(fù)合材料、納米復(fù)合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導(dǎo)體材料、納米纖維、蛋白質(zhì)、納米粉體等。
一、主要功能特點(diǎn)
硬件系統(tǒng)
1、光機(jī)電一體化設(shè)計(jì)，外形結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單；
2、掃描探頭和樣品臺(tái)集成一體，干擾能力強(qiáng)；
3、精密激光檢測(cè)及探針定位裝置，光斑調(diào)節(jié)簡(jiǎn)單，操作方便；
4、采用樣品趨近探針?lè)绞?，使針尖垂直于樣品掃描?/span>
5、伺服馬達(dá)手動(dòng)或自動(dòng)脈沖控制，驅(qū)動(dòng)樣品垂直接近探針，實(shí)現(xiàn)掃描區(qū)域定位；
6、高大范圍的樣品移動(dòng)裝置，可自由移動(dòng)感興趣的樣品掃描區(qū)域；
7、高大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據(jù)不同和掃描范圍要求選擇；
8、帶光學(xué)定位的CCD觀測(cè)系統(tǒng)，實(shí)時(shí)觀測(cè)與定位探針掃描樣品區(qū)域；
9、采用伺服馬達(dá)控制CCD自動(dòng)對(duì)焦功能；
10、模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)，便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù)；
11、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統(tǒng)使用。
12、帶溫度顯示。
軟件系統(tǒng)
1、可觀測(cè)樣品掃描時(shí)的表面形貌像、振幅像和相位像；
2、具備接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式；
3、可自由選擇圖像采樣點(diǎn)為256×256或512×512；
4、多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖；
5、多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測(cè)量功能；
6、可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域；
7、可任意選擇樣品起始掃描角度；
8、激光光斑檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能；
9、針尖共振峰自動(dòng)和手動(dòng)搜索功能；
10、可任意定義掃描圖像的色板功能；
11、支持樣品傾斜線平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能；
12、支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正；
13、支持樣品圖片離線分析與處理功能。
二、主要技術(shù)指標(biāo)
1、工作模式：接觸、輕敲、可擴(kuò)展相位、摩擦力、磁力或靜電力
2、樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm
3、掃描范圍：橫向50um，縱向5um
4、掃描分辨率：橫向0.2nm，縱向0.05nm
5、掃描速率：0.6Hz~4.34Hz
6、掃描角度：任意
7、樣品移動(dòng)范圍：0～50mm
8、馬達(dá)趨近脈沖寬度：10±2ms
9、光學(xué)放大倍數(shù)：10X
10、光學(xué)分辨率：1um
11、圖像采樣點(diǎn)：256×256，512×512
12、掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A
13、數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
14、反饋方式：DSP數(shù)字反饋
15、反饋采樣速率：64.0KHz
16、計(jì)算機(jī)接口：U2.0
17、運(yùn)行環(huán)境：運(yùn)行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統(tǒng)
原子力顯微鏡（二）
FM-Nanoview 1000AFM
簡(jiǎn)介：原子力顯微鏡應(yīng)用：其應(yīng)用范圍十分廣泛，利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測(cè)定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢(shì)梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細(xì)胞的表面結(jié)構(gòu)等。
可測(cè)樣品有：薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復(fù)合材料、納米復(fù)合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導(dǎo)體材料、納米纖維、蛋白質(zhì)、納米粉體等。
一． 主要功能特點(diǎn)
硬件系統(tǒng)
1、主機(jī)與控制箱分開，外形結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單；
2、掃描探頭和樣品臺(tái)集成一體，干擾能力強(qiáng)；
3、精密激光定位裝置，使用時(shí)無(wú)需調(diào)節(jié)光斑位置；
4、采用精密探針定位模塊，更換探針簡(jiǎn)單方便；
5、采用樣品趨近探針?lè)绞剑贯樇獯怪庇跇悠窉呙瑁?/span>
6、伺服馬達(dá)手動(dòng)或自動(dòng)脈沖控制，驅(qū)動(dòng)樣品垂直接近探針，實(shí)現(xiàn)掃描區(qū)域定位；
7、高大范圍的樣品移動(dòng)裝置，可自由移動(dòng)感興趣的樣品掃描區(qū)域；
8、高大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據(jù)不同和掃描范圍要求選擇；
9、帶光學(xué)定位的CCD觀測(cè)系統(tǒng)，實(shí)時(shí)觀測(cè)與定位探針掃描樣品區(qū)域；
10、模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)，便于電路的持續(xù)改進(jìn)與維護(hù)；
11、集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統(tǒng)使用；
12、彈簧懸掛式震方式，簡(jiǎn)單實(shí)用，干擾能力強(qiáng)。
13、帶溫控、濕控功能
軟件系統(tǒng)
13、可自由選擇圖像采樣點(diǎn)為256×256或512×512；
14、多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)查看剖面圖；
15、可進(jìn)行掃描區(qū)域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區(qū)域；
16、可任意選擇樣品起始掃描角度；
17、激光光斑檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)時(shí)調(diào)整功能；
18、可任意定義掃描圖像的色板功能；
19、支持樣品傾斜線平均、偏置實(shí)時(shí)校正功能；
20、支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動(dòng)校正；
21、支持樣品圖片離線分析與處理功能。
二． 主要技術(shù)指標(biāo)
22、工作模式：接觸、輕敲，可擴(kuò)展相位、摩擦力、磁力或靜電力
23、樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm
24、掃描范圍：橫向20um，縱向2um
25、掃描分辨率：橫向0.2nm，縱向0.05nm
26、掃描速率：0.6Hz~4.34Hz
27、掃描角度：任意
28、樣品移動(dòng)范圍：0～20mm
29、馬達(dá)趨近脈沖寬度：10±2ms
30、光學(xué)放大倍數(shù)： 4X
31、光學(xué)分辨率：2.5um
32、圖像采樣點(diǎn)：256×256，512×512
33、掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A
34、數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
35、反饋方式：DSP數(shù)字反饋
36、反饋采樣速率：64.0KHz
37、計(jì)算機(jī)接口：U2.0
38、運(yùn)行環(huán)境：運(yùn)行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統(tǒng)
