1、手動測座一系列固定的及手動可轉(zhuǎn)位測座，用于連接觸發(fā)式測頭和機器軸套，可靈活地對復雜部件進行檢測。MH20i：適用于TP20測針模塊的可重復定位測座；MH20：適用于TP20測針模塊的定位測座；MH8：適用于M8螺紋固定測頭的可重復定位測座；MIH(S)：具有內(nèi)置LCD位置顯示器的可重復定位測座；PH1：具有偏置測頭底座的定位測座；PH5/1：具有五個測頭插槽和B軸轉(zhuǎn)位的固定式測座；PH5：具有五個測頭插槽的固定式測座；PH6：具有一個測頭插槽的固定式測座；PH6M：具有自動鉸接的固定式測座。2、機動和自動測座機動可重復定位測座可將測頭放置在720個位置中的一個，所以可以在多個角度下進行測量。測座的這種重復性使這些位置可以重新調(diào)用，無需重新標定，節(jié)省了操作時間，并能夠在合適的角度上使用測頭，的結(jié)果。PH10機動可重復定位測座：可重復定位測座系列（PH10M、PH10MQ和PH10T）有軸套式安裝和測頭式安裝兩種選項3、伺服測座機動伺服測座提供無限制的角度位置，適合水平測量臂坐標測量機。4、觸發(fā)式測頭觸發(fā)式測頭測量離散的點，是檢測三維幾何工件的理想選擇。Renishaw提供品種、具有理想性價比的系統(tǒng)，既可在手動坐標測量機上進行簡單的性能檢測，也可在數(shù)控機器上進行復雜輪廓測量。TP20測頭：具有模塊交換功能的緊湊型機械式測頭；TP200測頭：具有模塊交換功能的緊湊型應(yīng)變片式測頭；TP6(A)測頭：具有M8和自動鉸接固定選項的堅固機械式測頭；TP7M測頭：具有自動鉸接的應(yīng)變片式測頭；OTP6M測頭：用于檢測軟材料的光學觸發(fā)式測頭；TP2/TP1S(M)測頭：傳統(tǒng)觸發(fā)式測頭。5、掃描測頭掃描測頭是微型測量儀器，每秒能夠采集幾百個表面點，可以測量形狀、尺寸和位置。掃描測頭也可用于采集離散點，與觸發(fā)式測頭類似。Renishaw提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標測量機選用。SP25M測頭：具有掃描和觸發(fā)式模塊的25 mm直徑掃描測頭；SP600測頭：檢測、數(shù)字化和輪廓掃描；SP80測頭：軸套安裝式掃描測頭，用長測針提供的性能。掃描原理掃描測量提供了從規(guī)則型面工件或其他復雜工件上采集形狀和輪廓數(shù)據(jù)的方法。觸發(fā)式測頭可采集表面離散點，而掃描系統(tǒng)則可獲取大量的表面數(shù)據(jù)，提供更詳細的工件形狀信息。因此，在實際應(yīng)用中如果工件形狀是整個誤差預算的重要考量因素或須對復雜表面進行檢測，掃描測量可謂理想之選。掃描需要同的傳感器設(shè)計、機器控制和數(shù)據(jù)分析方法。Renishaw掃描測頭特色的輕巧無源機構(gòu)（無馬達或鎖定機構(gòu)），具有高固有頻率，適合掃描測量。分離的光學測量系統(tǒng)直接（無需通過測頭機構(gòu)中的疊加軸）測量測針的變形量，以獲得更高的和更快的動態(tài)響應(yīng)。掃描系統(tǒng)如何采集并分析表面數(shù)據(jù)？掃描測頭提供連續(xù)的偏移量輸出，與機器位置相結(jié)合，從而獲得表面位置數(shù)據(jù)。進行掃描測量時，測頭測尖開始與工件接觸，然后沿工件表面移動，采集測量數(shù)據(jù)。在整個測量過程中，須將測頭測針的偏移量保持在測頭的測量范圍內(nèi)。要想取得測量結(jié)果，需要傳感器與機器控制緊密集成，以及的濾波運算，以將合成數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可用的表面信息。掃描驅(qū)動算法適用于工件輪廓測量，改變掃描速度使之匹配曲率的變化（表面越平，速度越快），然后調(diào)整數(shù)據(jù)采集速率（表面變化越快，采集的數(shù)據(jù)越多）。