光學(xué)膜厚測量儀 Filmetrics F20

膜厚測量儀 Filmetrics F20具性價比的先進薄膜厚度測量系統(tǒng)
使用 F20 頻譜反射測量系統(tǒng)，我們能輕松的實現(xiàn)對膜層厚度和光學(xué)常數(shù)(n 和 k 值)的測量。通過對膜層頂部、底部反射光譜進行分析，數(shù)秒內(nèi)我們即可得到膜層的厚度、折射率和消光系數(shù)。
通過內(nèi)置的獨立軟件和 USB 接口，能夠很容易的把 F20 安裝在任何的 Windows 電腦平臺上。健全的軟件材料庫(100 多種材料)，極大的滿足了對各種不同膜層結(jié)構(gòu)測量的需要，包括對單層、多層或獨立膜層的測量。透過測量樣品的光學(xué)常數(shù)或?qū)胍汛嬖诘馁Y訊，能夠在材料庫內(nèi)快速的增加新材料?？蓽y樣品膜層基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。這包括幾乎所有的電介質(zhì)與半導(dǎo)體材料，例如：
氧化硅 氮化硅 類金剛石 DLC
光刻膠 聚合物 聚酰亞胺
多晶硅 非晶硅 硅

相關(guān)應(yīng)用
半導(dǎo)體制造
? 光刻膠? 氧化物? 氮化物

光學(xué)鍍膜
? 硬涂層? 抗反射涂層? 濾光片
液晶顯示器
? 盒厚? 聚酰亞胺? ITO
生物醫(yī)學(xué)
? 聚對二甲苯? 生物膜? 硝化纖維

現(xiàn)場演示/支持
點幾下鼠標就可以在網(wǎng)絡(luò)上在線看到現(xiàn)場演示！請聯(lián)系我們，我們的應(yīng)用工程師會在電腦上為您演示薄膜測量是多么容易

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