同步測量薄膜的反射率/穿透率

     不需要費(fèi)時(shí)改變硬件配置，F(xiàn)10-RT-UV僅需要透過單擊鼠標(biāo)就能夠同時(shí)收集反射與透射光譜，不到一秒鐘的時(shí)間，陣列的光譜儀就可以快速的收集到資料。另外，F(xiàn)ilmetrics的Autobaseline設(shè)計(jì)可以減少十倍以上的基準(zhǔn)校準(zhǔn)的參數(shù)讀取時(shí)間。

分析優(yōu)點(diǎn)

     F10-RT使Filmetrics的分析能力實(shí)現(xiàn)了同步測量反射率與穿透率。只要立即的點(diǎn)擊鼠標(biāo)就能夠產(chǎn)生在客戶是定波長范圍內(nèi)，得出與小的反射率與穿透率。系統(tǒng)內(nèi)置邊緣檢測分析與FWHM分析，以及能針線于常見的空間色彩系統(tǒng)的色彩分析（例如：CIELAB與CIEXYZ）。而測量光譜與其他的數(shù)據(jù)能夠很容易的透過打印與導(dǎo)出或以JPEG圖片形式來傳送。同時(shí)，選配膜厚和參數(shù)解算模塊使F10-RT具有與Filmetrics F20相同多層薄膜分析能力。

健全、可靠的集成

F10-RT運(yùn)送抵達(dá)時(shí)具有完整的標(biāo)準(zhǔn)配置，小巧的機(jī)身與USB接口保證使您容易安裝。整機(jī)無任何運(yùn)動(dòng)件，初鎢鹵素?zé)敉鉄o需其他維護(hù)，確保設(shè)備高度可靠。