詢價(jià)
- 移動(dòng)平臺(tái)：精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
- 樣品腔尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
- 分析范圍：同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層
EDX4500系列設(shè)備的真空測(cè)量室能夠通過 X 射線熒光分析 (RFA) 檢測(cè)原子序數(shù)從Na（11）開始的輕元素。由于空氣會(huì)吸收輕元素的熒光X射線，因此在大氣環(huán)境中通常無法使用該方法。因此，該儀器非常適合對(duì)要求嚴(yán)苛的鍍層厚度進(jìn)行測(cè)量和材料分析。
EDX4500特性：
檢出限低、重復(fù)高，以及測(cè)量適用性廣，因此特別適用于研究和開發(fā)使用
配備真空測(cè)量室和高性能硅漂移探測(cè)器，能夠?qū)崿F(xiàn)測(cè)量，尤其是對(duì)輕元素的測(cè)試
通過可編程 X、Y 和 Z 軸進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試
準(zhǔn)直器和濾波器可切換，因此可適用于各種材料和測(cè)試條件
EDX4500應(yīng)用：
EDX4500涂層厚度測(cè)量
原子序數(shù)從Na（11）開始的輕元素鍍層，可測(cè)量厚度低至納米級(jí)
鋁鍍層和硅鍍層
EDX4500材料分析
測(cè)定寶石的真?zhèn)闻c原產(chǎn)地
常規(guī)材料分析和取證
高分辨率痕量分析
江蘇天瑞儀器股份有限公司生產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀，ROHS檢測(cè)儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測(cè)厚儀，氣相色譜儀，ROHS測(cè)量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF合金分析儀，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測(cè)儀， ROHS檢測(cè)儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。
江蘇天瑞儀器股份有限公司鍍層測(cè)厚儀展廳
