- 企業(yè)類型:貿(mào)易商
- 新舊程度:全新
- 原產(chǎn)地:德國(guó)
diondo d1
采用微納米焦點(diǎn)射線源和高分辨率探測(cè)器
可以滿足中小型樣品的快速、高分辨率掃描,實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的無(wú)損檢測(cè)、尺寸測(cè)量、結(jié)構(gòu)分析等。
關(guān)鍵特征:
● 高4軸機(jī)械系統(tǒng)
● 190kV/240kV 高功率反射型微米焦點(diǎn)
● 可選高分辨率穿透型納米焦點(diǎn)
● JIMA 卡空間分辨率測(cè)試可達(dá)0.5μm
● 檢測(cè)范圍:Φ500mm x H450mm
● 支持多種平板探測(cè)器,探元大小可選









