天瑞儀器提供考古陶瓷檢測解決方案

一、文物鑒定

    斷源與斷代是古陶瓷科學(xué)技術(shù)研究中的兩個重要方面，其中必定要使用到對古陶瓷標(biāo)本的化學(xué)組成以及記錄其年代信息的載體進行測定的科學(xué)方法。測定古陶瓷標(biāo)本與各地制陶原料的化學(xué)組成可以確定古陶瓷的產(chǎn)地，并可在一定程度上幫助判斷古陶瓷的燒造年代；而通過檢測保留在古陶瓷內(nèi)部的記錄其年代信息的各種載體，則可以較準(zhǔn)確的進行斷代。

    能量色散X射線熒光分析儀 是以X射線照射到樣品表面，利用能譜儀測定各種元素的特征X射線光子的能量和強度，以此來進行定性和定量分析。這種方法樣品處理很簡單，分析速度快，測量元素范圍廣，配合適當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)參考物可得到較好的準(zhǔn)確度，對樣品表面基本無損傷，如果在儀器定制時加裝真空大樣品室，就可以進行大器物的無損測試了。綜合這些優(yōu)點，可以認為它是目前進行古陶瓷無損鑒定比較好的一種方法。

陶瓷器的鑒定曾經(jīng)一度受到不可采樣的限制，僅對一些大型器物底部取樣作些熱釋光的年代分析工作，一些造假者甚至利用射線源對新燒的仿制品進行輻照處理，以期對熱釋光的檢測造成假象，干擾測試結(jié)果的結(jié)論。自上世紀八十年代以來，大的樣品室的X射線熒光光譜儀出現(xiàn)，瓷器的釉表面成分原位無損檢測既成事實，為瓷器的真?zhèn)闻袆e引入了一種全新的方法。近一兩年，由于河南汝窯遺址的發(fā)現(xiàn)，文物市場上一時間汝窯瓷器泛濫，各種形制、顏色的汝窯器著實讓人眼花繚亂。在使用X射線熒光光譜儀對其瓷釉表面成分進行無損分析的過程中粗略統(tǒng)計了一下，民間收藏的待測品九成以上都是假貨，其中大多數(shù)瓷釉成分中含有現(xiàn)代瓷釉制造的添加劑，而這些組分是宋代瓷釉中不可能出現(xiàn)的成分，用X射線熒光光譜儀檢測此類器物可謂是輕而易舉就能做出精準(zhǔn)測試。我們知道絕大多數(shù)瓷釉的基本組分是由十種元素即：鈉、鎂、鋁、硅、磷、鉀、鈣、鈦、錳、鐵的氧化物構(gòu)成，不同時代、窯口燒造的瓷釉其組成成分的配比是有區(qū)別的，正因如此，我們可對大量經(jīng)科學(xué)考古發(fā)掘的有確定年代和出土地點依據(jù)的參考瓷片釉層成分做出成分配比的數(shù)值分布范圍，將受鑒定樣品的成分配比與相應(yīng)時代的參考片成分進行比對，據(jù)此判斷被檢樣品在成分構(gòu)成上的可靠性，實踐證明，當(dāng)前文物市場中周轉(zhuǎn)的陶瓷器文物，有半數(shù)以上成分配比與古瓷片有較大差距，另有相當(dāng)一部分含有古代瓷器瓷釉中所沒有的組成成分，如氧化鋅、氧化鋇、氧化鋯等現(xiàn)代瓷釉添加劑，對于這類贗品瓷器，通過成分檢測可以非常容易的認定其屬性。如仿汝瓷釉含氧化鋯、氧化鋅。

• X射線熒光分析儀器應(yīng)用

 天瑞儀器是亞洲生產(chǎn)高性能X射線熒光光譜儀(XRF)的公司。2011年推出更新款高性能、臺式X熒光考古檢測分析儀EDX 3600L型,融匯先進的考古檢測分析技術(shù)！測試時間更短，測試結(jié)果更準(zhǔn)，斷源斷代更穩(wěn)！

產(chǎn)品名稱：EDX  3600L型 考古檢測X熒光光譜儀 
型號：EDX  3600L      
測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：ppm~99.99% 
分析：0.05% 
同時分析元素：同時可以分析35種以上元素
測量鍍層：鍍層厚度測量薄至0.005μm
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體 
測量時間：60s~180s  
管壓：5KV~50KV 
管流：50uA~1000uA 
輸入電壓：AC 110V/220V  
消耗功率：200W   
環(huán)境溫度: 10~36℃  
相對濕度: ≤85% 

標(biāo)準(zhǔn)配置

超薄窗大面積的美國進口SDD探測器
內(nèi)置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力30倍
可自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片
光路增強系統(tǒng)
內(nèi)置高清晰攝像頭
加強的金屬元素感度分析器
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
面光源
放大電路
高低壓電源
X光管
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。
三重安全保護模式

外觀尺寸： 800×710×1360 mm。
樣品腔尺寸：593（L）x546(W)x606(H)
重量：280kg

廠家介紹

江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產(chǎn)X熒光光譜儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,鍍層測厚儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，ROHS檢測儀，X射線鍍層測厚儀，氣相色譜儀，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF合金分析儀，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000等。

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