四寸手動(dòng)探針臺 電性測試儀 失效分析設(shè)備

型號：   PW-400                              
規(guī)格：
chuck尺寸100mm
X,Y移動(dòng)行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm（選項(xiàng)）
搭配AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)2～4顆
可以搭配測試機(jī)量測I/V、c/v、電阻、電容等參數(shù)

四寸手動(dòng)探針臺 電性測試儀 失效分析設(shè)備

在集成電路的研發(fā)、生產(chǎn)制造、實(shí)效分析過程中，經(jīng)常要量測內(nèi)部的電參數(shù)，由于制成的越來越低，沒有辦法用簡單的萬用表、示波器的表筆來探測信號。手動(dòng)分析探針臺能很好的幫助工程人員實(shí)現(xiàn)微小位置的電學(xué)參數(shù)測試。Advanced在中國推出手動(dòng)分析探針臺近10年歷史，銷售實(shí)績800多臺，并且以每年銷量行業(yè)銷量。行業(yè)客戶有：友達(dá)光電、華映光電、奇美光電、群創(chuàng)光電、飛兆半導(dǎo)體、德州儀器、華虹集成、華為、電子五所、航天808所、航天201所、中科院微電子所、蘇州中科院納米研究所、復(fù)旦大學(xué)、上海交通大學(xué)、西安電子科技大學(xué)、溫州大學(xué)、福州大學(xué)、廈門大學(xué)等等……

四寸手動(dòng)探針臺 電性測試儀 失效分析設(shè)備

型號：   PW-400                              
規(guī)格：
chuck尺寸100mm
X,Y移動(dòng)行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm（選項(xiàng)）
搭配AEC實(shí)體顯微鏡
針座擺放個(gè)數(shù)2～4顆
適用領(lǐng)域：4寸Wafer，如晶圓廠、LED、學(xué)單位等

四寸手動(dòng)探針臺 電性測試儀 失效分析設(shè)備