詢價(jià)
- 移動(dòng)平臺(tái)：精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
- 樣品腔尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
- 分析范圍：同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層
- 檢出限：可達(dá)2ppm，最薄可測(cè)試0.005μm
- 鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復(fù)性：可達(dá)0.1%
- 同時(shí)檢測(cè)元素：最多24個(gè)元素，多達(dá)五層鍍層
- 準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
THICK800A主要優(yōu)點(diǎn)及應(yīng)用
特殊鍍層厚度檢測(cè)：化學(xué)鍍鎳鈀浸金、鈀、 鎳、 銠等
汽車零部件、 線路板（PCB）鍍層厚度檢測(cè)，如：電容
單層、 多層、合金鍍層檢測(cè)
可同時(shí)檢測(cè)合金鍍層的厚度與成份比例
可選用Capillary微焦點(diǎn)（70μm）檢測(cè)樣品
可檢測(cè)多層薄膜的膜厚（多達(dá)5層）
便捷的樣品臺(tái)操控
可多點(diǎn)連續(xù)檢測(cè)
支持在線遠(yuǎn)程控制
項(xiàng)目 Item | 規(guī)格 Details |
X射線管 X-ray generator | 鉬/銠/ 鎢/ 銀 （可選），50kV，1mA Mo / Rh / W / Ag Target (Option), 50kV, 1mA |
探測(cè)器 Detector | SDD（硅漂移探測(cè)器） SDD (Silicon Drift Detector) |
分辨率 Resolution limit | 125±5eV 125eV (Mn Kα) |
X射線焦斑 X-ray coverage | 聚光纖(50～100μm) Poly capillary optics (50 ~ 100μm) 0.035mm（可調(diào)） 0.035mm（adjustable） |
測(cè)量范圍 Measuring range | 鋁（13）～ 鈾（92） Al (13) ~ U (92) |
樣本類型 Sample type | 固體/液體/粉末，多層 Solid / Liquid / Powder, Multi-Layer |
樣品室尺寸 Size of sample chamber | 390×410×100mm（寬×深×高） 390 × 410 × 100 mm(W × D × H) |
主要特征 Key features | - 自動(dòng)/手動(dòng)平臺(tái) - 常規(guī)鍍層厚度檢測(cè)，銠，鈀，金，銀，錫，鎳- 可測(cè)多層薄膜的鍍層厚度（多達(dá)5層） - Auto / Manual Stage Mode - Plating thickness measurement general, Rh, Pd, Au, Ag, Sn, Ni - Film thickness measurement of multilayer thin films (up to 5Layer). |
攝像頭 Camera properties | 40～80倍 40 ~ 80x |
安全性 safety | 3點(diǎn)聯(lián)鎖 3point interlock |
類型 Type of report | Excel，PDF/輸出自定義表單 Excel, PDF / output Custom form |
江蘇天瑞儀器股份有限公司是大的鍍層測(cè)厚儀生產(chǎn)企業(yè)， 產(chǎn)品打破了國外壟斷局面，性價(jià)比高，在行業(yè)內(nèi)銷量，分析儀器上市公司。公司生產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀，氣相色譜質(zhì)譜儀（GCMS）,五金鍍層測(cè)厚儀，x射線測(cè)厚儀，ROHS檢測(cè)儀，手持式ROHS光譜儀，手持式合金分析儀，ROHS檢測(cè)設(shè)備，電鍍層測(cè)厚儀，五金鍍層測(cè)量?jī)x，天瑞ROHS儀，X射線鍍層測(cè)厚儀。天瑞儀器成立于1992 年，以研究、生產(chǎn)、銷售XRF熒光光譜儀起步，目前從事以光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀為主的高端分析儀器及應(yīng)用軟件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和相關(guān)技術(shù)服務(wù)，是國內(nèi)上市的分析儀器企業(yè)。
江蘇天瑞儀器股份有限公司鍍層測(cè)厚儀展廳
