詢價(jià)
Thick600金層測(cè)厚儀是天瑞儀器實(shí)惠的金屬鍍層測(cè)厚儀；儀器采用下照式結(jié)構(gòu)，適合平面樣品的檢測(cè)，配置的軟件界面簡(jiǎn)潔，測(cè)試樣品用時(shí)40S，天瑞儀器金層測(cè)厚儀廠家，售后服務(wù)可靠及時(shí)。
鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法：
1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005
2、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005
3、庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005
測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1國標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
2.美國標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
儀器分析原理
Thick600金層測(cè)厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來得到待測(cè)元素的特征信息。
樣品測(cè)試步驟
1） 每天開機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開測(cè)試軟件“FpThick”：
用戶使用“Administrator”，密碼：skyray
2） 進(jìn)入測(cè)試軟件后，選擇“測(cè)試條件”
點(diǎn)擊“確定”，即測(cè)試條件確定（儀器已設(shè)置好）
3） 選擇“工作曲線”
如待測(cè)樣品是鐵鍍鎳，則選擇Ni-Fe；其他依次類推
4） 放入“Ag片”對(duì)儀器進(jìn)行初始化
初始化完成后，（峰通道為1105，計(jì)數(shù)率達(dá)到一定的數(shù)，如300以上）。
5） 待測(cè)樣品測(cè)試
放入待測(cè)的樣品，通過攝像頭畫面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況，以及儀器的X射線的聚焦點(diǎn)。可以通過軟件提供的十字坐標(biāo)（也稱十字光標(biāo)）來定位該聚焦點(diǎn)，將樣品放在聚焦點(diǎn)位置。點(diǎn)擊“開始”，輸入樣品名稱后“確定”。
6） 測(cè)試完成后即可保持，的位置可以在桌面的“分析”快捷方式中的“鍍層”中找到。
注意：測(cè)試鍍層樣品時(shí)，必須先要確定是什么鍍層、選擇好對(duì)應(yīng)的工作曲線測(cè)試。
儀器性能特點(diǎn)
1. 長(zhǎng)效穩(wěn)定X銅光管；
2.半導(dǎo)體硅片電制冷探測(cè)器，摒棄元素識(shí)別能力較弱的計(jì)數(shù)盒；
3.內(nèi)置天瑞儀器研發(fā)部研發(fā)的—信噪比增強(qiáng)器（SNE）與MCA多道分析器；
4.內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶隨時(shí)觀測(cè)樣品；
5.脈沖處理器，數(shù)據(jù)處理快速準(zhǔn)確；
6.手動(dòng)開關(guān)樣品腔，操作安全方便；
7.三重安全保護(hù)模式；
8.整體鋼架結(jié)構(gòu)、外型簡(jiǎn)潔；
9.FP軟件，無標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可測(cè)量。
