詢價(jià)
X射線測(cè)厚儀主要應(yīng)用于金屬鍍層膜厚的檢測(cè)，鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍銀等，天瑞儀器是生產(chǎn)
X射線測(cè)厚儀的廠家，分析儀器上市企業(yè)，Thick8000是目前公司達(dá)的一款，有著先進(jìn)的三維移動(dòng)平臺(tái)，清晰的樣品觀測(cè)系統(tǒng)，國(guó)內(nèi)品牌。天瑞儀器是國(guó)內(nèi)的X熒光鍍層膜厚儀生產(chǎn)企業(yè)， 產(chǎn)品打破了國(guó)外壟斷局面，在行業(yè)內(nèi)國(guó)內(nèi)銷量，分析儀器上市公司。
技術(shù)指標(biāo)
先進(jìn)的微孔準(zhǔn)直技術(shù)：小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭
分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）
同時(shí)檢測(cè)元素：多24個(gè)元素，多達(dá)5層鍍層
分析含量：一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
SDD探測(cè)器：分辨率低至135eV
準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺(tái)尺寸：393（W）x 258 （D）mm
X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位：小于0.1um
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度：15℃～30℃
上照式X射線測(cè)厚儀可以檢測(cè)精密電子加工業(yè)的鍍金層厚度，PCB線路板鍍金層、鍍銀層厚度檢測(cè)，相比普通測(cè)厚儀，上照式電鍍層測(cè)厚儀可以檢測(cè)任何不規(guī)則形狀和0.2mm寬以上的樣品鍍層測(cè)試。上照式電鍍層測(cè)厚儀的品牌主要是三個(gè)，德國(guó)菲希爾，江蘇天瑞儀器，以及英國(guó)牛津，天瑞儀器生產(chǎn)的電鍍層測(cè)厚儀型號(hào)是thick800a，質(zhì)量高，性價(jià)比高，銷售市場(chǎng)占有率達(dá)40%以上。
天瑞儀器thick800aX射線測(cè)厚儀的工作原理是利用x射線對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā)，檢測(cè)熒光強(qiáng)度來換算成金屬表層的厚度的儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。
鍍層測(cè)厚儀性能
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
鍍層測(cè)厚儀配置
開放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
X射線測(cè)厚儀thick800a軟件界面，清晰明了,簡(jiǎn)單易學(xué)，備受客戶青睞。
