X射線是電磁波譜中的某特定波長(zhǎng)范圍內(nèi)（0.005～10nm）的電磁波。一個(gè)穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成，其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運(yùn)行。當(dāng)X射線作為高能粒子束轟擊介質(zhì)時(shí)，原子的內(nèi)層電子（如K層）在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛釋放出來，電子的逐放會(huì)導(dǎo)致該電子殼層出現(xiàn)相應(yīng)電子空位。這時(shí)處于高能量電子殼層的電子（如L層）會(huì)躍遷到該低能量電子殼層來填補(bǔ)相應(yīng)的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來。    

1、edx光譜分析儀技術(shù)原理

　　X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（X射線），激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。

　　元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長(zhǎng)的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長(zhǎng)λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：

λ=K(Z? s) ?2

式中K和S是常數(shù)。

　而根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個(gè)光具有的能量為：

E=hν=h C/λ

式中，E為X射線光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數(shù)；ν為光波的頻率；C為光速。

因此,只要測(cè)出熒光X射線的波長(zhǎng)或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。

2、X熒光光譜儀主要用途

　　X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，也可以獲得各元素的含量信息。

近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得*多也*廣泛。 大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Na到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。

3、X熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)

　　a) 分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。

　　b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。

　　c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

　　d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

e) 分析精密度高。

f) 制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

3、EDX系列熒光光譜儀在地礦行業(yè)的應(yīng)用

礦產(chǎn)勘查是礦業(yè)投資成功率***、風(fēng)險(xiǎn)、回報(bào)*不確定的階段，在礦產(chǎn)勘查階段，投資蘊(yùn)藏著極大的風(fēng)險(xiǎn)。隨著我國(guó)礦產(chǎn)資源勘查和礦業(yè)工作發(fā)展戰(zhàn)略從過去的外延式發(fā)展為主轉(zhuǎn)而側(cè)重于內(nèi)涵式發(fā)展和戰(zhàn)略性轉(zhuǎn)變，政府開始重視對(duì)礦產(chǎn)資源勘查開發(fā)的有效投入，促進(jìn)礦產(chǎn)資源投資主體多元化，在減少財(cái)政投資經(jīng)費(fèi)的同時(shí)鼓勵(lì)商業(yè)性礦產(chǎn)勘查與開發(fā)。

我國(guó)商業(yè)性礦產(chǎn)地質(zhì)勘查體制的框架已初步形成，礦業(yè)權(quán)制度逐步完善，市場(chǎng)主體正在形成，商業(yè)性礦產(chǎn)地質(zhì)勘查活動(dòng)已經(jīng)開始，這大大的加強(qiáng)了各大礦業(yè)公司對(duì)礦產(chǎn)的勘探和投資力度，但對(duì)于礦業(yè)公司來說，勘查的分析工具并沒有國(guó)家各地質(zhì)勘查局那么全面，這樣就制約了各大公司的發(fā)展，而且如果目前還采用傳統(tǒng)的化學(xué)滴定法來對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試的話，其效率太低，人為誤差大。而天瑞儀器股份有限公司制造的各種分析儀器能幫助各種勘探單位對(duì)礦產(chǎn)進(jìn)行勘探，提高效率，***分析，大大縮短勘探時(shí)間，加快我國(guó)礦產(chǎn)地質(zhì)勘查事業(yè)的發(fā)展。 

天瑞儀器秉承X熒光光譜儀20多年研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，EDX4500H再次使檢測(cè)巖石中元素含量向具體化、快速化方向的邁進(jìn)。高效真空形成條件及高靈敏半導(dǎo)體探測(cè)器保障對(duì)礦石中的元素具有超低的檢出限；更寬的元素檢出范圍滿足多種元素的同時(shí)檢測(cè)需求，適用面更廣；同時(shí)引入了目前進(jìn)的4096道數(shù)字多道技術(shù)，采用進(jìn)口超薄鈹窗高激發(fā)效率的X射線管，使儀器計(jì)數(shù)率更高，穩(wěn)定性更好；優(yōu)化了光路結(jié)構(gòu)、軟硬件可靠性，真空腔體、使之性能更好、更便攜；更全面的可靠性設(shè)計(jì)，獨(dú)特的抗震性設(shè)計(jì)，及獨(dú)立散熱的風(fēng)道，使得該儀器通過了江蘇省計(jì)量測(cè)試研究所高低溫、高低頻電動(dòng)振動(dòng)、及濕熱等多種環(huán)境下的使用；使之可在現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)以及各類地質(zhì)勘察多元素檢測(cè)和分析、礦渣精煉分析中充分發(fā)揮作用。

儀器測(cè)試巖屑的X熒光光譜圖

Mg元素的測(cè)試曲線和數(shù)據(jù)

Si元素的測(cè)試曲線（相關(guān)性在90%以上）

K元素的測(cè)試曲線（相關(guān)性在90%以上）

儀器分析：

譜圖如下:

4、 X熒光分析儀EDX4500H產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

EDX4500H型X熒光分析儀及其系列產(chǎn)品，測(cè)試和準(zhǔn)確性很高的分析測(cè)試設(shè)備?，F(xiàn)在將其產(chǎn)品做以下簡(jiǎn)要闡述：

天瑞儀器公司是生產(chǎn)高性能X熒光光譜儀(XRF)的公司，自1992年創(chuàng)辦公司以來，一直從事X射線熒光光譜儀的研發(fā)制造，2011年推出的高性能臺(tái)式X熒光合金分析儀EDX4500H,融匯的成分分析技術(shù)，配備合金測(cè)試效果的智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測(cè)試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高測(cè)試樣品中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測(cè)效果。

EDX4500H光譜儀是天瑞儀器公司為地礦行業(yè)開發(fā)的儀器類型。具有測(cè)試高、測(cè)試速度快、測(cè)試簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。

性能特點(diǎn)
高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到水平
針對(duì)合金的測(cè)試而開發(fā)的專用配件
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性；
高信噪比的電子線路單元
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制；
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然
標(biāo)準(zhǔn)配置：
合金測(cè)試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進(jìn)口SDD探測(cè)器
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍：1 ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間：60秒-200秒
能量分辨率為：（140±5）eV
管壓：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA