詢價(jià)
- 移動(dòng)平臺(tái)：精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
- 樣品腔尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
- 分析范圍：同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層
- 檢出限：可達(dá)2ppm，最薄可測(cè)試0.005μm
- 鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復(fù)性：可達(dá)0.1%
- 同時(shí)檢測(cè)元素：最多24個(gè)元素，多達(dá)五層鍍層
- 準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
機(jī)型：EDX4500。
商品名：X熒光分光計(jì)。
從鈉(Na)到鈾(U)的測(cè)量元素范圍
分析范圍：ppm—99.99%(不同元素，分析范圍不同)
一次分析元素：數(shù)十個(gè)元素一次性測(cè)定。
計(jì)量時(shí)間：60-200秒。
X-Ray光譜儀檢測(cè)器的能量分辨率：145±5eV。
管子壓力：5KV-50KV。
管流：50μA-1000μA。
X-Ray分光計(jì)測(cè)量物體狀態(tài)：粉末，固體，液體。
輸入電壓：AC110V/220伏特。
室溫：15℃-30℃。
空氣濕度35%-70%
外型尺寸：660mm×510mm×350mm。
試樣室體積：Φ320mm×100mm。
體重：65公斤。
工作特性。
高效率超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到水平。
采用數(shù)字多道技術(shù)，使測(cè)試速度更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS。對(duì)合金的檢測(cè)更有效。
SDD硅漂移探測(cè)器具有良好的線性能量、能譜和分辨率，峰背比高。
X-Ray光譜儀低能量X射線激發(fā)待測(cè)元素，激發(fā)Si,P等輕元素效果較好。
智能化抽氣系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大大拓展了測(cè)試范圍。
本實(shí)用新型保證了儀器工作的一致性。
高信噪比電子線裝置。
對(duì)于不同的樣品，自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免除了手工操作的繁瑣。
解譜技術(shù)使譜峰分解，使待測(cè)元素得到相同的分析精度。
用X-Ray分光計(jì)多參數(shù)線性回歸法，可顯著抑制元素間的吸收、強(qiáng)化作用。
內(nèi)置高清攝像機(jī)。
液晶顯示屏讓儀器的重要參數(shù)(管壓，管流，真空度)一目了然。
標(biāo)準(zhǔn)化配置
高效率超薄窗X光管
SDD硅漂探測(cè)器
數(shù)字化多重技術(shù)
鋼鐵業(yè)專用配件的試驗(yàn)。
光學(xué)增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線裝置
內(nèi)置高清攝像機(jī)。
自轉(zhuǎn)換式準(zhǔn)直器和濾波器。
自動(dòng)化光譜穩(wěn)定設(shè)備。
第三，安全保護(hù)模式。
互不相關(guān)的基體效應(yīng)修正模型
多元非線性回歸分析程序
整機(jī)鋼框架結(jié)構(gòu)，力量可靠。
九十毫米×七十毫米液晶屏
負(fù)壓泵
適用范圍。
X—Ray光譜儀鋼樣檢測(cè)，全元素分析，有害元素(RoHS，鹵素等)
