五金鍍層測(cè)厚儀適用范圍
鐵基－－－－□Fe/Zn, □Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni， □Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基－－－－-□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
鋅基－－－－-□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑膠基體－－－－plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線(xiàn)光譜方法
2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
1 快速：一般測(cè)量一個(gè)樣品只需要10S～60S，樣品可不處理或進(jìn)行簡(jiǎn)單處理；
2 無(wú)損：物理測(cè)量，不改變樣品性質(zhì)；
3 準(zhǔn)確：對(duì)樣品可以分析；
4 直觀(guān)：直觀(guān)的分析譜圖，元素分布一幕了然，定性分析速度快；
5 環(huán)保：檢測(cè)過(guò)程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水。
性能特點(diǎn)
滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿(mǎn)足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加*
良好的射線(xiàn)屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

技術(shù)指標(biāo)
儀器：X熒光測(cè)厚儀
型號(hào)：Thick 800A
 外型尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
 樣品室尺寸： 500(W)×350(D)×140(H) mm
 樣品臺(tái)尺寸： 230(W)×210(D)mm
 Z軸升降平臺(tái)升降范圍： 0～140mm
 平臺(tái)移動(dòng)測(cè)量范圍 ： 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)
分析方法： FP與EC法兼容能量色散X熒光分析方法
測(cè)量元素范圍 ：原子序數(shù)為16S～92U之間的元素均可測(cè)量
同時(shí)檢測(cè)元素 可同時(shí)分析*多24個(gè)元素，五層鍍層
檢出限 ：金屬鍍層分析*薄可達(dá)0.005μm
厚度范圍：分析鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)（每種材料有所不同）
穩(wěn)定性： 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)1%

檢測(cè)時(shí)間 ：30-60秒
探測(cè)器及分辨率 ：25mm2Be窗口SDD探測(cè)器，分辨率140±5eV
激發(fā)源： 50KV/1000uA-W靶X光管及高壓電源
多道分析器 ： DMCA數(shù)字多道分析技術(shù)，分析道數(shù)4096道
準(zhǔn)直器和濾光片 固定Ф0.2mm準(zhǔn)直器，可選配其他孔徑，Al濾光片
定位 ：平臺(tái)電機(jī)重復(fù)定位小于0.1um
樣品觀(guān)察： 配備CCD多彩攝像頭，圖像放大可達(dá)40倍，實(shí)現(xiàn)微小樣品清晰定位。
平臺(tái)穩(wěn)定性 ：Z軸測(cè)試平臺(tái)采用恒力彈簧平衡重力

x熒光鍍層測(cè)厚儀的價(jià)格產(chǎn)品介紹

X熒光測(cè)厚儀Thick800A是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀，使用大鈹窗超薄窗口高分辨率的SDD探測(cè)器，其探測(cè)器分辨率*低為139eV，處于*水平；X熒光鍍層測(cè)厚儀Thick800A是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀，使用大鈹窗超薄窗口高分辨率的SDD探測(cè)器，其探測(cè)器分辨率*低為139eV，處于*水平；

X熒光鍍層測(cè)厚儀，對(duì)這一類(lèi)鍍層測(cè)厚儀你有了解嗎？它也是天瑞儀器鍍層測(cè)厚儀中的一種，與Think600鍍層測(cè)厚儀具有不同的功能，就讓小編帶大家來(lái)認(rèn)識(shí)一下X熒光鍍層測(cè)厚儀Thick800AX。
 X熒光鍍層測(cè)厚儀Thick800A是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀，使用大鈹窗超薄窗口高分辨率的SDD探測(cè)器，其探測(cè)器分辨率*低為139eV，處于*水平；產(chǎn)品采用上照式設(shè)計(jì)，多重防輻射保護(hù)裝置以及X射線(xiàn)發(fā)生器，使輻射劑量符合規(guī)定；樣品觀(guān)察系統(tǒng)采用CCD攝像頭、數(shù)字多道分析器、激光定位以及自主研發(fā)的專(zhuān)用測(cè)厚分析軟件，各項(xiàng)指標(biāo)均符合相關(guān)技術(shù)要求，技術(shù)達(dá)*水平。
 該款鍍層儀器專(zhuān)為電子半導(dǎo)體、五金電鍍、印刷線(xiàn)路板、首飾手表、檢測(cè)機(jī)構(gòu)等行業(yè)量身打造的*儀器。XYZ三個(gè)可調(diào)節(jié)方向、全方位的樣品觀(guān)察系統(tǒng)和激光定位使得檢測(cè)更方便。超大的測(cè)試內(nèi)部空間，良好的散熱效果和抗電磁干擾能力，模塊化的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使安裝、調(diào)試、維護(hù)更方便，可適應(yīng)惡劣工作環(huán)境。

鍍層測(cè)厚儀是一種使用正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測(cè)器的儀器，但在測(cè)量值上仍存在著誤差，以下就由小編向大家做一些對(duì)鍍層測(cè)厚儀測(cè)量值的影響因素的相關(guān)說(shuō)明。 
一、基體金屬磁性質(zhì)：磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
二、基體金屬電性質(zhì)：基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
三、基體金屬厚度：每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。
四、邊緣效應(yīng)：本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
五、曲率：試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
六、試件的變形：測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
七、表面粗糙度：基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
八、磁場(chǎng)：周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
九、附著物質(zhì)：本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
十、測(cè)頭壓力：測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
十一、測(cè)頭的取向：測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
儀器介紹
 X熒光鍍層測(cè)厚儀Thick800A是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀，使用大鈹窗超薄窗口高分辨率的SDD探測(cè)器，其探測(cè)器分辨率*低為139eV，處于*水平；產(chǎn)品采用上照式設(shè)計(jì)，多重防輻射保護(hù)裝置以及X射線(xiàn)發(fā)生器，使輻射劑量符合規(guī)定；樣品觀(guān)察系統(tǒng)采用CCD攝像頭、數(shù)字多道分析器、激光定位以及自主研發(fā)的專(zhuān)用測(cè)厚分析軟件，各項(xiàng)指標(biāo)均符合相關(guān)技術(shù)要求，技術(shù)達(dá)*水平。
優(yōu)點(diǎn)簡(jiǎn)述
 該款鍍層儀器專(zhuān)為電子半導(dǎo)體、五金電鍍、印刷線(xiàn)路板、首飾手表、檢測(cè)機(jī)構(gòu)等行業(yè)量身打造的*儀器。XYZ三個(gè)可調(diào)節(jié)方向、全方位的樣品觀(guān)察系統(tǒng)和激光定位使得檢測(cè)更方便。超大的測(cè)試內(nèi)部空間，良好的散熱效果和抗電磁干擾能力，模塊化的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使安裝、調(diào)試、維護(hù)更方便，可適應(yīng)惡劣工作環(huán)境