詢價
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：臺灣
SoC 測試系統(tǒng) Chroma 3650基本介紹：
CRISP (軟體測試環(huán)境)
架構(gòu)在Windows XP作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650的軟體測試環(huán)境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form)，是一個結(jié)合工程開發(fā)與量產(chǎn)需求的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執(zhí)行控制模 組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機(jī)臺管理模組。透過親切的圖形人機(jī)介面的設(shè) 計，CRISP提供多樣化的開發(fā)與除錯工具，包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體模組，可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時的需 求 ; 此外，Histogram tool可用于重復(fù)測試參數(shù)，包含時序、電壓、電流等，以評估其測試流程之穩(wěn)定度。
在量產(chǎn)工具的部份，透過特別為操作員所設(shè)計 的OCI (Operator Control Interface)量產(chǎn)平臺，生 產(chǎn)人員可輕易地控制每個測試階段。它提供產(chǎn)品 導(dǎo)向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650、 晶圓針測機(jī)和送料機(jī)等裝置溝通。程式設(shè)計者 可先行在Production Setup Tool視窗之下設(shè)定OCI 的各項參數(shù)，以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操作員所需進(jìn)行的工作，只是選擇程式設(shè)計者已規(guī)劃好的流 程，即可開始量產(chǎn)，大幅降低生產(chǎn)線上的學(xué)習(xí)的時 間。
SoC 測試系統(tǒng) Chroma 3650主要特點(diǎn):
512個 I/O 通道(I/O Channel)
16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)
Per-Pin 彈性資源架構(gòu)
32 DUTS 平行測試功能
ADC/DAC 測試功能
硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器(Algorithmic Pattern Generator)
BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項
好學(xué)易用的 Windows XP 作業(yè)環(huán)境
每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
彈性化的 MS C/C++ 程式語言
即時pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
測試程式/測試pattern轉(zhuǎn)換軟體(J750, SC312)
多樣化測試分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等
最經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的VLSI和消費(fèi)性混合信號晶片產(chǎn)品的測試方案
