詢價
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：臺灣
VLSI 測試系統(tǒng) Model 3380P主要特色：
50/100 MHz測試頻率
50/100 Mbps數(shù)據(jù)速率
512數(shù)字通道管腳 (可至 576數(shù)字通道管腳)
并行測試可達 512 sites 同測數(shù)
32/64/128M Pattern 記憶體
多樣彈性 VI 電源
彈性化硬體結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel Trim/Match 功能
時序頻率測試單位 (TFMU)
AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) *可選配
SCAN向量存儲深度( 2G bits/chain) *可選配
ALPG 測試選配供記憶體 IC用
STDF 工具支援
測試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
人性化 Window 7 操作系統(tǒng)
CRAFT C/C++ 程式語言
軟件介面與 3380P/3360P 相同
Direct mount 治具可相容于3360P probe-card
Cable mount 治具可相容于3360D與3360P
VLSI 測試系統(tǒng) Model 3380P涵蓋廣泛的應用范圍:
Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal); Power, LED driver, Class D; SCAN, ALPG, Match...etc
為因應未來IC晶片須具備更高速度及更多腳位及更復雜功能的IC晶片，Chroma新一代VLSI測試系統(tǒng)3380D/3380P/3380除采用更彈性架構(gòu)外，整合密度更高且功能更強大。
3380D/3380P/3380機型為因應高同測(HighParallel Test)功能，除內(nèi)建獨特的4-wire功能高密度IC電源(VI source)外，更具備Any Pins to Any Site高同測功能(512 I/O pin可并行測512 個測試晶片)，以因應未來IC晶片更高的測試需求。3380P同時具備All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機臺性價比。3380系列VLSI測試系統(tǒng)無論在裝機、穩(wěn)定度、友善使用介面、及成本效益上，長期以來皆已于中國市場獲得廣泛印證。
