- 移動平臺:精密的三維移動平臺
- 樣品腔尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
- 分析范圍:同時可以分析30種以上元素,五層鍍層
- 檢出限:可達2ppm,最薄可測試0.005μm
- 鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
- 同時檢測元素:最多24個元素,多達五層鍍層
- 準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準直器組合
國內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的標準測定涂鍍層厚度,覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進步而更加至關(guān)重要。

有關(guān)覆層無損檢測方法,主要有:楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面,系有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍小。因有放射源,故使用者必須遵守射線防護規(guī)范,一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。電容法一般僅在很薄導電體的絕緣覆層厚度測試上應用。磁性測量法及渦流測量法,隨著技術(shù)的日益進步,特別是近年來引入微處理機技術(shù)后,測厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實用化方面邁進了一大步。測量的分辨率已達0.1μm,精度可達到1%。
又有適用范圍廣,量程寬、操作簡便、價廉等特點。是工業(yè)和科研使用廣泛的儀器。采用無損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,故能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。我金碩特公司現(xiàn)對以下分別介紹幾種常規(guī)測厚的方法分別介紹。


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