詢價(jià)
- 電壓范圍：60~1000V
- 電流范圍：0~1500A
- 功率范圍：0~600kW
- 尺寸：H190 x W400 x D100cm
- 重量：7200kg
能源回收式電池模塊測(cè)試系統(tǒng)
REGENERATIVE BATTERY PACK
TEST SYSTEM MODEL 17040
Chroma 17040電池包測(cè)試系統(tǒng)是專為高功率二次電池組測(cè)試而開發(fā)的高精密充放電設(shè)備，具 有能源回收功能，可節(jié)省放電過程所消耗的大量電能，即使動(dòng)態(tài)充放電，也能確保電網(wǎng)端維持 穩(wěn)定，不致因諧波污染影響其他設(shè)備。并將電池組放電產(chǎn)生的電能回收到電網(wǎng)再利用，解決傳統(tǒng)的設(shè)備放電能量虛耗，以及空間熱處理不易的問題，符合環(huán)保需求。該系統(tǒng)搭配Battery Pro軟件，具備彈性編輯功能，可進(jìn)行各信道獨(dú)立測(cè)試，符合二次電池模組的各項(xiàng)測(cè)試需求，具高度穩(wěn)定性與安全性，并支持?jǐn)嚯姀?fù)歸功能，確保測(cè)試數(shù)據(jù)不中斷。 針對(duì)電池測(cè)試設(shè)計(jì)多項(xiàng)安全保護(hù)機(jī)制，測(cè)試過程 自動(dòng)偵測(cè)過電壓、過電流、過溫度、外部參數(shù)判 斷等異常訊號(hào)，保障測(cè)試過程安全。各通道偵測(cè)到異常時(shí)，啟動(dòng)中止充放電保護(hù)措施，并具備斷電數(shù)據(jù)保存與復(fù)歸測(cè)試功能，防范任何數(shù)據(jù)遺漏 的潛在因素。
高頻采樣準(zhǔn)確截取電池組容量
高頻取樣量測(cè)技術(shù)的取樣率為50kHz，可確保動(dòng)態(tài)量測(cè)精度。一般電池充放電機(jī)直接使用軟件讀取電流值作電量計(jì)算，但軟件的數(shù)據(jù)讀取速度有限制，會(huì)造成動(dòng)態(tài)電流的容量計(jì)算誤差過大。17040藉由提高V/I 取樣率與兩次積分法，提供精準(zhǔn)的容量計(jì)算，電流變化時(shí)數(shù)據(jù)不遺漏，不受數(shù)據(jù)傳輸速率影響， V/I 取樣率50kHz (每20μs 取樣一點(diǎn))。
安全的能源回收設(shè)計(jì)保護(hù)人員安全 (選配)
VDE測(cè)試要求，簡(jiǎn)言之是發(fā)電機(jī)連接到電網(wǎng)端的低壓配電網(wǎng)絡(luò)時(shí)要考慮的主要項(xiàng)目，即使在設(shè)備增長(zhǎng)的情況下，也能根據(jù)《德國能源工業(yè)法》的要求， 保持電網(wǎng)運(yùn)行的安全性和可靠性，并符合DIN EN 50160法規(guī)的電壓限制。選購裝置符合VDE-4105-AE測(cè)試要求，保護(hù)功能：
■ 電壓保護(hù): V < 0.8Un, < 0.2s / V > 1.1Un, < 0.2 s / V > 1.15Un, < 0.2s
■ 頻率保護(hù): f < 47.5Hz, < 0.2s / f > 1.5Hz, < 5 sec
多重電源輸出保護(hù)滿足電池模塊測(cè)試的風(fēng)險(xiǎn)管控
Chroma17040符合二次電池組的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備高度的穩(wěn)定性與安全性，當(dāng)檢測(cè)到異常情況時(shí)，充放電保護(hù)即中止測(cè)試，直接加載到充放電機(jī)執(zhí)行，透過內(nèi)部韌體/硬件達(dá)到多層保護(hù)功能，內(nèi)建多項(xiàng)告警/保護(hù)模式。
■ 電壓保護(hù): 過充電壓/過放電/壓電壓變化量
■ 電流保護(hù): 過電流/過容量/電流變化量
■ 其他保護(hù): 過溫/掉線保護(hù)/過功率/CC-CV轉(zhuǎn)態(tài)時(shí)間
多種控制命令彈性化擴(kuò)充測(cè)試系統(tǒng)
用戶可配合SCPI命令、Labview驅(qū)動(dòng)程序、Labwindow驅(qū)動(dòng)程序與 CANbus命令等語言，自行開發(fā)應(yīng)用軟件，操作17040能源回收式電池 模塊測(cè)試系統(tǒng)，亦可透過Chroma強(qiáng)大的整合能力，客制化集成于電池 包自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)。提供多種設(shè)備外部訊號(hào)接口 (CANbus, Ethernet, Analog I/O)，可支持硬件在環(huán)測(cè)試平臺(tái) (HIL)。標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)配置與并聯(lián)組合如下圖：
