x射線鍍層測(cè)厚儀XD-1000開創(chuàng)了全新一代EFP核心算法，開發(fā)了高集成的四焦技術(shù)、閉環(huán)移動(dòng)控制及AI影像識(shí)別。為微小面積、異形高低面、多層多元素與不同層同元素的檢測(cè)提供穩(wěn)定高效，領(lǐng)先國際水準(zhǔn)的無損自動(dòng)檢測(cè)解決方案。

x射線鍍層測(cè)厚儀XD-1000是一款專用于檢測(cè)各種異形件，特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析光譜儀。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。

x射線鍍層測(cè)厚儀性能介紹

1）搭載微聚焦X射線發(fā)生器和先進(jìn)的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)擁有無損變焦檢測(cè)技術(shù)，測(cè)量面積可達(dá)0.01mm2

2）手動(dòng)變焦功能，可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm

3）核心EFP算法，可對(duì)多層多元素快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析，選配高精密微型移動(dòng)滑臺(tái)，可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)位、多樣品的精準(zhǔn)位移和同時(shí)檢測(cè)

4）可同時(shí)分析23個(gè)鍍層、24種元素，測(cè)量元素范圍：氯Cl（17）- 鈾U（92），涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92），涂鍍層檢出限：0.005μm

5）人性化封閉軟件，自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

6）標(biāo)配φ0.2mm準(zhǔn)直器

7）配有微光聚集技術(shù)，光斑擴(kuò)散度小于10%

x射線鍍層測(cè)厚儀軟件操作界面截圖：

1. 清晰化操作界面布局

        簡約的布局設(shè)計(jì)，可令操作員快速的掌握軟件基本操作。

2. 便捷化程式選擇

        增加了日常鍍層程序快捷鍵設(shè)計(jì)按鈕，無需進(jìn)入程序庫挑選，便可快速檢測(cè)，提升工作效率。

3. 高清可視化窗口

        可以清晰直觀的觀測(cè)到被檢測(cè)樣品的狀態(tài)，通過獨(dú)有的變焦調(diào)節(jié)旋鈕，達(dá)到用戶最

理想的觀測(cè)效果。

4. 多通道數(shù)字譜圖界面

        清晰化呈現(xiàn)被檢樣品的元素譜圖，配合先進(jìn)的解譜技術(shù)，便可精準(zhǔn)計(jì)算出結(jié)果。

5. 儀器狀態(tài)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)匯總

        可一目了然的觀測(cè)到儀器運(yùn)行狀況，有任何異常，系統(tǒng)都將提醒，大大降低操作失誤。