產(chǎn)品概述

ATP5030/4是奧譜天成傾力打造的一款制冷型超高分辨率微型光譜儀，代表了微型光譜探測(cè)技術(shù)的尖端水平。它基于公司自主研發(fā)的M型光路結(jié)構(gòu)，結(jié)合TEC電制冷技術(shù)與高性能探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)了可達(dá)0.05nm的可達(dá)分辨率，能夠清晰分辨極其細(xì)微的光譜特征。

該產(chǎn)品不僅在性能上追求卓越，更在設(shè)計(jì)上兼顧了高可靠性、超高速測(cè)量、低成本與高性價(jià)比等特質(zhì)，使其不僅適用于苛刻的實(shí)驗(yàn)室研究，也能穩(wěn)定運(yùn)行于工業(yè)在線檢測(cè)等各種復(fù)雜環(huán)境，是一款真正意義上的通用型高性能微型光譜儀。光纖光譜儀光纖光譜儀光纖光譜儀光纖光譜儀

核心技術(shù)優(yōu)勢(shì)

1. 超凡分辨率與穩(wěn)定光路：
   采用創(chuàng)新的M型非交叉C-T光路設(shè)計(jì)，相比傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)，在同等體積下實(shí)現(xiàn)了更高的色散效率與光學(xué)性能，這是成就其0.05nm~2nm超高光譜分辨率的基石。

2. 制冷技術(shù)提升信噪比：
   集成TEC電制冷系統(tǒng)，可將探測(cè)器核心溫度穩(wěn)定控制在-5°C。此舉顯著降低了暗電流和熱噪聲，大幅提升了光譜的動(dòng)態(tài)范圍和信噪比，確保在微弱信號(hào)或長時(shí)間積分條件下也能獲得穩(wěn)定、純凈的數(shù)據(jù)。

3. 靈活的探測(cè)配置：
   用戶可根據(jù)對(duì)分辨率和像素?cái)?shù)量的需求，在2048或4096像素的線陣探測(cè)器中選擇，其中ATP5030P型號(hào)更采用制冷型背照式CCD，具備更高的量子效率，特別適用于紫外-近紅外（200-1100nm）波段的微弱光探測(cè)。

4. 強(qiáng)大的系統(tǒng)集成能力：

• 寬范圍積分時(shí)間：從0.1毫秒到256秒的超寬積分時(shí)間范圍，使其能從容應(yīng)對(duì)從瞬時(shí)脈沖光到連續(xù)弱光的各種測(cè)量場(chǎng)景。

• 便捷的接口：提供USB Type-C接口用于高速數(shù)據(jù)傳輸與控制，并配備20針擴(kuò)展接口，支持外接觸發(fā)及定制化功能開發(fā)，內(nèi)置的氙燈同步觸發(fā)控制電路便于與外部光源精準(zhǔn)聯(lián)動(dòng)。

• 簡易供電：僅需直流5V供電，極大簡化了系統(tǒng)集成與現(xiàn)場(chǎng)部署。

關(guān)鍵特性一覽

• 探測(cè)器制冷溫度：-5 °C

• 光路結(jié)構(gòu)：M型非交叉C-T

• 光譜范圍：200-1100 nm

• 光譜分辨率：0.05 nm

• 探測(cè)器選項(xiàng)：2048 / 4096像素線陣探測(cè)器 (ATP5030P為制冷背照式CCD)

• 積分時(shí)間：0.1 ms ~ 256 s

• ADC位深：16位

• 數(shù)據(jù)接口：USB Type-C

• 擴(kuò)展接口：20針

• 光輸入方式：SMA905光纖或自由空間光

廣泛應(yīng)用領(lǐng)域

ATP5030/4憑借其超高分辨率、高靈敏度和卓越穩(wěn)定性，在眾多前沿科學(xué)與工業(yè)領(lǐng)域成為關(guān)鍵工具：

• 高端科研：LIBS（激光誘導(dǎo)擊穿光譜）、等離子體發(fā)光特性研究、拉曼光譜檢測(cè)。

• 光源監(jiān)測(cè)：激光器波長穩(wěn)定性監(jiān)測(cè)、LED光譜分析及分選。

• 環(huán)境監(jiān)測(cè)：水質(zhì)成分分析、紫外煙氣排放連續(xù)監(jiān)測(cè)。

• 精密測(cè)量：光譜輻射分析、分光光度測(cè)量、材料反射/透射光譜檢測(cè)。